[发明专利]一种基于局部均值思想的IC粒子区域缺陷检测方法有效
| 申请号： | 201610844487.0 | 申请日： | 2016-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN106447657B | 公开（公告）日： | 2019-04-05 |
| 发明（设计）人： | 刘霖;刘鹏;倪光明;卿亮;杜晓辉;王祥舟;夏翔;张静;刘娟秀;刘永 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11 |
| 代理公司： | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人： | 张杨 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 该发明公开了一种基于局部均值思想的IC粒子区域缺陷检测方法，属于数字图像处理领域。通过采集液晶面板IC粒子区域的清晰图像，计算IC里bump区域的像素均值，将bump区域分割为大小相同的小区域，对分割的图像依次求取每个小区域的像素均值，将所有像素均值进行指数拉伸，拉伸后的最大像素均值和最小像素均值；再最大像素均值与最小像素均值做差；差值小于给定的阈值，说明该IC区域无缺陷，如果该差值大于给定的阈值，则说明有缺陷；该方法达到了提高达到检测效率高，速度快的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 局部 均值 思想 ic 粒子 区域 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于局部均值思想的IC粒子区域缺陷检测方法，该方法包括以下步骤：步骤1：采集液晶面板IC粒子区域的清晰图像；步骤2：对步骤1中的图像计算IC里bump区域的像素均值；步骤3：将步骤1中IC里的bump区域分割为大小相同的小区域；步骤4：对步骤3中分割的图像依次求取每个小区域的像素均值；步骤5：对步骤4中计算的所有像素均值进行指数拉伸；步骤6：计算步骤5中拉伸后的最大像素均值和最小像素均值；步骤7：将步骤6中的最大像素均值与最小像素均值做差；步骤8：如果步骤7中所得的差值小于给定的阈值，说明该IC区域无缺陷，进入步骤11，如果该差值大于给定的阈值，则说明有缺陷，进入步骤9；步骤9：将步骤6计算的最大均值与步骤2中计算的全图的像素均值做差，再将步骤2中计算全图像素均值与步骤6的最小均值做差，对这两个差值再做差；步骤10：如果步骤9的所得的差值大于0，则说明为异物缺陷，否则为腐蚀缺陷；步骤11：输出缺陷检测结果。
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