[发明专利]一种基于局部均值思想的IC粒子区域缺陷检测方法有效
| 申请号： | 201610844487.0 | 申请日： | 2016-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN106447657B | 公开（公告）日： | 2019-04-05 |
| 发明（设计）人： | 刘霖;刘鹏;倪光明;卿亮;杜晓辉;王祥舟;夏翔;张静;刘娟秀;刘永 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11 |
| 代理公司： | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人： | 张杨 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 局部 均值 思想 ic 粒子 区域 缺陷 检测 方法 | ||
【说明书】：
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