[发明专利]利用硼磷共掺提高纳米硅材料中的磷掺杂浓度的方法在审

专利信息
申请号: 201610835042.6 申请日: 2016-09-19
公开(公告)号: CN106384708A 公开(公告)日: 2017-02-08
发明(设计)人: 徐骏;李东珂;陆鹏;李伟;翟颖颖;陈坤基 申请(专利权)人: 南京大学
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02;B82Y30/00
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙)32249 代理人: 陈建和
地址: 210093 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 利用硼磷共掺技术提高纳米硅基薄膜中磷的掺杂浓度效率的方法,步骤如下1)利用PECVD制备掺杂纳米硅/二氧化硅多层膜材料;2)通过交替进行非晶硅层沉积/原位氧化两个过程,能够获得掺杂纳米硅/二氧化硅(a‑Si/SiO2)多层膜材料;控制非晶硅层沉积/原位氧化的时获得a‑Si/SiO2多层膜的厚度;3)对制备的a‑Si/SiO2多层膜进行脱氢处理;4)脱氢后对进行氮气氛围下的高温退火处理,使多晶硅结晶形成纳米硅,并激活杂质原子进入纳米硅内部,实现纳米硅的掺杂;制备成共掺杂的纳米硅/二氧化硅多层膜。
搜索关键词: 利用 硼磷共掺 提高 纳米 材料 中的 掺杂 浓度 方法
【主权项】:
利用硼磷共掺技术提高纳米硅基薄膜中磷的掺杂浓度效率的方法,其特征是步骤如下:1)利用PECVD制备掺杂纳米硅/二氧化硅多层膜材料;生长掺杂纳米硅薄膜时通入硅烷(SiH4)在硅片上进行非晶硅层沉积,同时通入磷烷(PH3)和硼烷(B2H6)以实现硼磷共掺杂,并改变掺杂气体流量以获得不同的掺杂浓度;生长纳米硅层膜材料,关闭硅烷和掺杂气体,通入氧气(O2)进行原位氧化纳米硅获得二氧化硅层;2)通过交替进行非晶硅层沉积/原位氧化两个过程,能够获得掺杂纳米硅/二氧化硅(a‑Si/SiO2)多层膜材料;控制非晶硅层沉积/原位氧化的时获得a‑Si/SiO2多层膜的厚度;3)对制备的a‑Si/SiO2多层膜进行脱氢处理;4)脱氢后对进行氮气氛围下的高温退火处理,使多晶硅结晶形成纳米硅,并激活杂质原子进入纳米硅内部,实现纳米硅的掺杂;经过以上步骤就能够制备共掺杂的纳米硅/二氧化硅多层膜。
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