[发明专利]晶体管及其制造方法有效
申请号: | 201610817754.5 | 申请日: | 2016-09-13 |
公开(公告)号: | CN107819034B | 公开(公告)日: | 2020-08-14 |
发明(设计)人: | 冉晓雯;彭少甫;徐振航 | 申请(专利权)人: | 元太科技工业股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/772 | 分类号: | H01L29/772;H01L21/335;H01L29/06 |
代理公司: | 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 | 代理人: | 王正茂;丛芳 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开了一种晶体管及其制造方法,该制造晶体管的方法包含:形成包含第一导电层、第一绝缘层、第二导电层以及第二绝缘层的堆叠结构于基材上;对第一绝缘层、第二导电层以及第二绝缘层进行图案化,以形成贯穿第一绝缘层、第二导电层以及第二绝缘层的至少一个开口;形成半导体层于第二绝缘层上方,且填充开口;移除半导体层位于第二绝缘层上方的部分,其中半导体层残留在开口内的部分形成至少一个半导体通道;以及形成第三导电层于半导体通道上方。本发明制造的晶体管具有更高的载子迁移率。 | ||
搜索关键词: | 晶体管 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种晶体管,其特征在于,包含:第一电极;第一绝缘层,位于所述第一电极上方;第二电极,位于所述第一绝缘层上方;第二绝缘层,位于所述第二电极上方;半导体通道层,由所述第一电极向上延伸贯穿所述第一绝缘层、所述第二电极和所述第二绝缘层;以及第三电极,位于所述第二绝缘层上方,且接触所述半导体通道层的顶面。
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