[发明专利]一种粒子分类方法及粒子分类装置在审
| 申请号： | 201610810747.2 | 申请日： | 2016-09-08 |
| 公开（公告）号： | CN106501160A | 公开（公告）日： | 2017-03-15 |
| 发明（设计）人： | 王巧龙 | 申请（专利权）人： | 长春迪瑞医疗科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/10 | 分类号： | G01N15/10 |
| 代理公司： | 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙)44268 | 代理人： | 王永文,朱阳波 |
| 地址： | 130103 吉林*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种粒子分类方法及粒子分类装置，通过获取粒子的二维分布散点图，并根据粒子个数和其所对应的X坐标值和Y坐标值得到X轴和Y轴粒子个数统计曲线图，对分布散点图上的粒子点群进行初步区域划分；计算分布散点图上各个区域全部粒子点所对应数据的均值和协方差，并根据计算出的均值和协方差，计算每个粒子距离各个区域中协方差所对应置信椭圆的最近距离，并将粒子归于最近距离最小的区域中，对初步划分出的区域进行修正，得到最终区域划分。由于本发明所述的方法及装置，可以基于其二维高斯分布，从而实现粒子的准确划分，使分类结果更加准确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 粒子 分类 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种粒子分类方法，其特征在于，包括以下步骤：A、获取粒子在光照区域时产生的特征信号，并根据特征信号形成粒子分布散点图；B、对分布散点图中数据分别作X轴和Y轴的垂直投影，得到分布散点图中X坐标值和Y坐标值相同的粒子个数，根据粒子个数和其所对应的X坐标值和Y坐标值得到X轴和Y轴粒子个数统计曲线图；C、以所述统计曲线图中波谷所处位置点或者波峰的曲率最大值所对应位置点相应的数据作为划分阈值，对分布散点图上的粒子点群进行初步区域划分；D、计算分布散点图上各个区域全部粒子点所对应数据的均值和协方差，并根据计算出的均值和协方差，计算每个粒子距离各个区域中协方差所对应置信椭圆的最近距离，并将粒子归于最近距离最小的区域中，对初步划分出的区域进行修正，得到最终区域划分。
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