[发明专利]半导体装置及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201610694439.8 申请日: 2016-08-19
公开(公告)号: CN107180807B 公开(公告)日: 2019-11-05
发明(设计)人: 前田竹识;福田昌利;松岛良二;青木秀夫 申请(专利权)人: 东芝存储器株式会社
主分类号: H01L23/488 分类号: H01L23/488;H01L21/60
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 徐健;段承恩
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供能够容易地获得稳定的连接的半导体装置及其制造方法。实施方式的半导体装置包括:布线基板、第1半导体元件、第2半导体元件、凸块、粘接部和树脂部。第2半导体元件设置在布线基板与第1半导体元件之间。凸块设置在第1、第2半导体元件之间,将第1、第2半导体元件电连接。粘接部具有第1弹性模量,设置在第1、第2半导体元件之间而将第1、第2半导体元件粘接。树脂部具有比第1弹性模量高的第2弹性模量。树脂部的第1部分设置在第1、第2半导体元件之间。在树脂部的第2部分与布线基板之间,配置第1、第2半导体元件。树脂部的第3部分在与从布线基板朝向第1半导体元件的第1方向交叉的第2方向上与第1、第2半导体元件重叠。
搜索关键词: 半导体 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种半导体装置,具备:布线基板;第1半导体元件;第2半导体元件,其设置在所述布线基板与所述第1半导体元件之间;凸块,其设置在所述第1半导体元件与所述第2半导体元件之间,将所述第1半导体元件与所述第2半导体元件电连接;多个粘接部,其设置在所述第1半导体元件与所述第2半导体元件之间,将所述第1半导体元件与所述第2半导体元件粘接,在23℃时具有0.2GPa以上且10GPa以下的第1弹性模量,该多个粘接部的所有面积相对于所述第1半导体元件的面积为11%以上且小于78.5%;以及树脂部,其在23℃时具有15GPa以上且30GPa以下的第2弹性模量,所述树脂部的第1部分设置在所述第1半导体元件与所述第2半导体元件之间,在所述树脂部的第2部分与所述布线基板之间,配置所述第1半导体元件以及所述第2半导体元件,所述树脂部的第3部分包围所述第1半导体元件以及所述第2半导体元件的侧面,所述树脂部的第4部分配置在所述布线基板与所述第2半导体元件之间。
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