[发明专利]一种压环、反应腔室和半导体加工设备在审
申请号: | 201610522143.8 | 申请日: | 2016-07-05 |
公开(公告)号: | CN107579033A | 公开(公告)日: | 2018-01-12 |
发明(设计)人: | 李新颖;蒋秉轩;王宽冒 | 申请(专利权)人: | 北京北方华创微电子装备有限公司 |
主分类号: | H01L21/687 | 分类号: | H01L21/687;H01L21/67 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司11112 | 代理人: | 彭瑞欣,张天舒 |
地址: | 100176 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种压环、反应腔室和半导体加工设备,该压环包括环状本体和沿环状本体周向排布的若干个压爪,其特征在于,还包括设置在压爪底部的弹性部件,弹性部件与若干个压爪一一对应;并且,弹性部件在压环将晶片固定于基座上时产生压缩变形,并与晶片上表面的边缘区域弹性接触。本发明中的压环可以有效的避免压环与晶片之间的“粘片”现象的发生,该结构的压环可以使用更小的压爪来压住晶片,从而减少压爪对于晶片的遮挡区域,提高晶片的有效工艺镀膜或刻蚀区域,并能实现较高的晶片利用率,从而提高单片晶片的产能和经济效益。 | ||
搜索关键词: | 一种 反应 半导体 加工 设备 | ||
【主权项】:
一种压环,用于将晶片固定于基座上,所述压环包括环状本体和沿所述环状本体周向排布的若干个压爪,其特征在于,还包括设置在所述压爪底部的弹性部件,所述弹性部件与所述若干个压爪一一对应;并且,所述弹性部件在所述压环将所述晶片固定于基座上时产生压缩变形,并与所述晶片上表面的边缘区域弹性接触。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造