[发明专利]半导体装置及其制造方法有效
申请号: | 201610510621.3 | 申请日: | 2016-07-01 |
公开(公告)号: | CN107579066B | 公开(公告)日: | 2020-03-31 |
发明(设计)人: | 冯军宏 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
主分类号: | H01L27/06 | 分类号: | H01L27/06;H01L21/77 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 刘倜 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种半导体装置及其制造方法,涉及半导体工艺技术领域。半导体装置包括鳍片式ESD元件,方法包括:提供衬底结构,衬底结构包括半导体衬底、半导体衬底上的用于ESD元件的半导体鳍片和包绕鳍片的一部分的电极结构;在衬底结构上形成第二电介质层以覆盖电极结构,在第二电介质层中形成到电极的顶部的沟槽,沟槽在电极之上,沿着电极的纵向,并且沟槽的横向宽度小于等于电极的顶部的横向宽度;以金属材料填充沟槽,以形成在电极顶部之上并且与电极耦接的金属散热片。本发明对现有的ESD元件结构进行改进,金属散热片能够有效提高器件的散热效果,从而提高器件的性能。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体装置的制造方法,其特征在于,所述半导体装置包括鳍片式ESD元件,所述方法包括:提供衬底结构,所述衬底结构包括半导体衬底、半导体衬底上的用于所述ESD元件的半导体鳍片和包绕所述鳍片的一部分的电极结构,所述电极结构包括包绕所述鳍片的所述部分的第一电介质层以及在所述第一电介质层上的电极;在所述衬底结构上形成第二电介质层以覆盖所述电极结构,在所述第二电介质层中形成到所述电极的顶部的沟槽,所述沟槽在所述电极之上,沿着所述电极的纵向,并且沟槽的横向宽度小于等于所述电极的顶部的横向宽度;以金属材料填充所述沟槽,以形成在所述电极顶部之上并且与所述电极耦接的金属散热片。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的