[发明专利]点质量模型中浅层高分辨率点质量最佳埋藏深度确定方法有效
| 申请号: | 201610435361.8 | 申请日: | 2016-06-18 |
| 公开(公告)号: | CN106125149B | 公开(公告)日: | 2017-12-15 |
| 发明(设计)人: | 赵东明;包欢;王庆宾;李姗姗;张宏伟;刘兵;张超;王若璞;徐立 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军信息工程大学 |
| 主分类号: | G01V7/00 | 分类号: | G01V7/00 |
| 代理公司: | 郑州大通专利商标代理有限公司41111 | 代理人: | 周艳巧 |
| 地址: | 450000 河*** | 国省代码: | 河南;41 |
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| 摘要: | 本发明涉及一种点质量模型中浅层高分辨率点质量最佳埋藏深度确定方法,包括利用现有重力模型及不同分辨率重力数据构建低分辨率分层残差点质量模型,对垂直重力梯度和精确位置进行测量,根据测量数据进行深度反演,确定点质量埋藏深度范围,以一定步长选择多个埋藏深度值,分别进行点质量模型解算,对非网格中点的数据进行恢复,与实际测量值进行比较,统计恢复误差,对所有节点对应深度的恢复误差进行横向比较,确定最小恢复误差对应的浅层高分辨率点质量最佳埋藏深度。本发明能更加准确地得到浅层高分辨率点质量的埋藏深度,提高分层点质量组合模型逼近近地面空间扰动引力的精确度。 | ||
| 搜索关键词: | 质量 模型 层高 分辨率 最佳 埋藏 深度 确定 方法 | ||
【主权项】:
一种点质量模型中浅层高分辨率点质量最佳埋藏深度确定方法,其特征在于:包含如下步骤:步骤1、依据选定区域范围内的重力异常数据构建低分辨率分层残差点质量模型;步骤2、在步骤1构建的点质量模型网格内进行垂直重力梯度测量和精确位置测量,计算浅层高分辨率点质量模型网格中点的重力异常和扰动重力垂直梯度数据;步骤3、对选定区域范围内的浅层高分辨率重力异常数据和扰动重力垂直梯度数据进行深度反演,确定点质量埋藏深度范围;步骤4、根据步骤1构建的点质量模型,依据高分辨率重力异常数据和步骤2获得的浅层高分辨率点质量模型网格中点的扰动重力垂直梯度数据,以步长L在点质量埋藏深度范围内选择多个埋藏深度值,根据埋藏深度值逐个解算点质量模型,以解算结果恢复选定区域范围内非网格中点的重力异常数据及扰动重力垂直梯度数据,统计恢复误差,直至点质量埋藏深度范围内所有节点对应的深度逐个完成点质量模型解算,获得所有节点对应深度的点质量模型恢复误差;步骤5、对获得的点质量模型恢复误差进行横向比较,确定最小恢复误差所对应的深度,即为浅层高分辨率点质量最佳埋藏深度。
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