[发明专利]点质量模型中浅层高分辨率点质量最佳埋藏深度确定方法

权利要求书

1.一种点质量模型中浅层高分辨率点质量最佳埋藏深度确定方法，其特征在于：包含如下步骤：

步骤1、依据选定区域范围内的重力异常数据构建低分辨率分层残差点质量模型；

步骤2、在步骤1构建的点质量模型网格内进行垂直重力梯度测量和精确位置测量，计算浅层高分辨率点质量模型网格中点的重力异常和扰动重力垂直梯度数据；

步骤3、对选定区域范围内的浅层高分辨率重力异常数据和扰动重力垂直梯度数据进行深度反演，确定点质量埋藏深度范围；

步骤4、根据步骤1构建的点质量模型，依据高分辨率重力异常数据和步骤2获得的浅层高分辨率点质量模型网格中点的扰动重力垂直梯度数据，以步长L在点质量埋藏深度范围内选择多个埋藏深度值，根据埋藏深度值逐个解算点质量模型，以解算结果恢复选定区域范围内非网格中点的重力异常数据及扰动重力垂直梯度数据，统计恢复误差，直至点质量埋藏深度范围内所有节点对应的深度逐个完成点质量模型解算，获得所有节点对应深度的点质量模型恢复误差；

步骤5、对获得的点质量模型恢复误差进行横向比较，确定最小恢复误差所对应的深度，即为浅层高分辨率点质量最佳埋藏深度。

2.根据权利要求1所述的点质量模型中浅层高分辨率点质量最佳埋藏深度确定方法，其特征在于：步骤1具体包含如下步骤：

步骤1.1、利用低阶位系数模型计算每个1°×1°网格的平均重力异常数据得残差观测值：解得1°×1°点质量M₁作为第一组点质量；

步骤1.2、用位系数模型计算每个20′×20′网格的平均重力异常用1°×1°点质量M₁计算平均异常得残差观测值：

Δg‾20′×20′e=Δg‾20′×20′-Δg‾20′×20′S-Δg‾20′×20′M1]]>，

解得20′×20′点质量M₂作为第二组点质量；

步骤1.3、用位系数模型计算每个5′×5′网格的平均重力异常用第一组、第二组点质量分别计算出平均异常得残差观测值：

Δg‾5′×5′e=Δg‾5′×5′-Δg‾5′×5′S-Δg‾5′×5′M1-Δg‾5′×5′M2]]>，

解得5′×5′点质量M₃作为第三组点质量。