[发明专利]利用荧光光谱测定反硝化除磷工艺中正磷酸盐浓度的方法在审

专利信息
申请号: 201610200701.9 申请日: 2016-03-30
公开(公告)号: CN105784659A 公开(公告)日: 2016-07-20
发明(设计)人: 张华;黄显怀;黄健;王坤;张勇;陶勇;全桂军;刘航;田纪宇 申请(专利权)人: 安徽建筑大学
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 230022 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 一种利用荧光光谱测定反硝化除磷工艺中正磷酸盐浓度的方法,包括:(1)分别取厌氧、缺氧条件下的污泥样品在Tris溶液中定容,水浴加热冷却离心取上清液;(2)测定还原型辅酶I的荧光强度,参数为:Ex/Em=340~360nm/440~460nm;(3)以化学方法测定厌氧、缺氧污泥样品的正磷酸盐浓度;(4)建立荧光强度x1、x2与正磷酸盐浓度y1、y2之间的关系,得线性方程y1=0.013x1+9.922、y2=0.034x2‑13.24,相关系数R2为0.919、0.911;(5)取待测污泥样品,按相同方法测得还原型辅酶I的荧光强度,代入线性方程,得正磷酸盐浓度。本发明的方法高效便捷、结果准确。
搜索关键词: 利用 荧光 光谱 测定 硝化 工艺 中正 磷酸盐 浓度 方法
【主权项】:
一种利用荧光光谱测定反硝化除磷工艺中正磷酸盐浓度的方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)分别取厌氧、缺氧条件下的污泥样品在Tris溶液中定容,之后水浴加热,然后冷却后离心取上清液;(2)对上清液进行荧光光谱扫描,测定光谱中还原型辅酶I的荧光强度,其中,荧光光谱的参数为:Ex/Em=340~360nm/440~460nm;(3)以化学方法分别测定厌氧、缺氧条件下的污泥样品的正磷酸盐浓度;(4)分别建立在厌氧、缺氧条件下还原型辅酶I的荧光强度x1、x2与正磷酸盐浓度y1、y2之间的关系,得到线性方程y1=0.013x1+9.922、y2=0.034x2‑13.24,其中,相关系数R2分别为0.919、0.911;(5)取反硝化除磷工艺中的待测污泥样品,按步骤(1)和(2)相同的方法测定得到光谱中还原型辅酶I的荧光强度,代入对应的线性方程,得到待测污泥样品的正磷酸盐浓度。
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