[发明专利]一种可见光漫射通信中环境表面反射率谱的测量方法有效
| 申请号： | 201610150902.2 | 申请日： | 2016-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN105699333B | 公开（公告）日： | 2018-08-21 |
| 发明（设计）人： | 丁举鹏;黄博扬;徐正元 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G01N21/55 | 分类号： | G01N21/55 |
| 代理公司： | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人： | 郑立明;陈亮 |
| 地址： | 230026 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种可见光漫射通信中环境表面反射率谱的测量方法，借助积分球以及宽光谱光源对有待测环境表面材料和无待测环境表面材料反射作用下的光谱分别进行扫测，得到该待测环境表面材料的相对反射率谱；借助积分球以及单色光光源对有待测环境表面材料和无待测环境表面材料反射作用下的光谱分别进行扫测，得到该待测环境表面材料对该单色光的绝对反射率；以所获得的单色光的绝对反射率为基准，求得宽光谱范围内其他波长光的绝对反射率；将所获得的全部波长光的绝对反射率拼合，得到整个波长范围内的绝对反射率谱。该测量方法能够准确、高效地获得环境表面材料的绝对反射率谱，提高了可见光漫射通信中反射率的测量效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 可见光 漫射 通信 环境 表面 反射率 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种可见光漫射通信中环境表面反射率谱的测量方法，所述方法包括：借助积分球以及单色光光源对有待测环境表面材料和无待测环境表面材料反射作用下的光谱分别进行扫测；将得到的针对单色光光源的两个光谱的有效部分进行点对点相除，得到该待测环境表面材料对该单色光的绝对反射率；其特征在于，所述方法还包括：借助积分球以及宽光谱光源对有待测环境表面材料和无待测环境表面材料反射作用下的光谱分别进行扫测；将得到的针对宽光谱光源的两个光谱的有效部分进行点对点相除，得到该待测环境表面材料的相对反射率谱；以所获得的单色光的绝对反射率为基准，按照已经获得的相对反射率谱中不同波长光之间的相对比例关系，按比例求得宽光谱范围内其他波长光的绝对反射率；将所获得的全部波长光的绝对反射率拼合，得到整个波长范围内的绝对反射率谱。
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