[发明专利]一种可见光漫射通信中环境表面反射率谱的测量方法

权利要求书

1.一种可见光漫射通信中环境表面反射率谱的测量方法，所述方法包括：

借助积分球以及单色光光源对有待测环境表面材料和无待测环境表面材料反射作用下的光谱分别进行扫测；

将得到的针对单色光光源的两个光谱的有效部分进行点对点相除，得到该待测环境表面材料对该单色光的绝对反射率；

其特征在于，所述方法还包括：

借助积分球以及宽光谱光源对有待测环境表面材料和无待测环境表面材料反射作用下的光谱分别进行扫测；

将得到的针对宽光谱光源的两个光谱的有效部分进行点对点相除，得到该待测环境表面材料的相对反射率谱；

以所获得的单色光的绝对反射率为基准，按照已经获得的相对反射率谱中不同波长光之间的相对比例关系，按比例求得宽光谱范围内其他波长光的绝对反射率；

将所获得的全部波长光的绝对反射率拼合，得到整个波长范围内的绝对反射率谱。

2.根据权利要求1所述测量方法，其特征在于，所述方法还包括：

在进行相对反射率谱的测量过程中，待测环境表面材料的尺寸与宽光谱光源所产生的光斑在形状和尺寸上保持一致；

在进行单色光的绝对反射率的测量过程中，待测环境表面材料的尺寸与单色光光源所产生的光斑在形状和尺寸上保持一致。

3.根据权利要求1所述测量方法，其特征在于，所述将得到的针对宽光谱光源的两个光谱的有效部分进行点对点相除，具体包括：

将积分球在有待测环境表面材料以及无待测环境表面材料条件下输出的针对宽光谱光源的两个光谱的非零连续部分进行点对点相除。

4.根据权利要求1所述测量方法，其特征在于，所述将得到的针对单色光光源的两个光谱的有效部分进行点对点相除，具体包括：

将积分球在有待测环境表面材料以及无待测环境表面材料条件下输出的针对单色光光源的两个光谱在单色光波长的部分进行点对点相除。

5.根据权利要求1所述测量方法，其特征在于，

所述宽光谱光源的连续波长范围在400纳米到780纳米之间。

6.根据权利要求1所述测量方法，其特征在于，

所述单色光光源的中心波长在所述宽光谱光源的波长范围内。