[发明专利]具有光滑侧壁的垂直LED芯片结构的制备方法在审

专利信息
申请号: 201610068672.5 申请日: 2016-01-29
公开(公告)号: CN107026227A 公开(公告)日: 2017-08-08
发明(设计)人: 魏天使;徐慧文;李起鸣 申请(专利权)人: 映瑞光电科技(上海)有限公司
主分类号: H01L33/48 分类号: H01L33/48;H01L33/00;H01L33/20
代理公司: 上海光华专利事务所31219 代理人: 余明伟
地址: 201306 上海市浦东新区*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种具有光滑侧壁的垂直LED芯片结构及其制备方法,包括1)提供生长衬底,于生长衬底上依次生长UID-GaN层、N-GaN层、多量子阱层以及P-GaN层;2)于P-GaN层上形成P电极;3)提供键合衬底,将键合衬底与步骤2)得到的结构键合在一起;4)剥离生长衬底;5)去除UID-GaN层,并采用ICP刻蚀工艺去除切割道区域的GaN,同时形成台阶结构;6)于台阶结构的侧壁及切割道区域形成钝化保护层;7)对N-GaN层表面进行表面粗化,形成粗化微结构;8)于表面粗化后的N-GaN层表面制备N电极。本发明的制备方法可以有效地避免在台阶结构的侧壁形成深槽,使得台阶结构的侧壁始终为光滑侧壁,提高了台阶结构侧壁的抗ESD击穿的能力,从而大大提升了垂直LED芯片结构的可靠性。
搜索关键词: 具有 光滑 侧壁 垂直 led 芯片 结构 制备 方法
【主权项】:
一种具有光滑侧壁的垂直LED芯片结构的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括以下步骤:1)提供生长衬底,于所述生长衬底上依次生长UID‑GaN层、N‑GaN层、多量子阱层以及P‑GaN层;2)于所述P‑GaN层上形成P电极;3)提供键合衬底,将所述键合衬底与步骤2)得到的结构键合在一起,且所述P电极的表面与所述键合衬底的表面紧密贴合;4)剥离所述生长衬底;5)去除所述UID‑GaN层,并采用ICP刻蚀工艺去除切割道区域的GaN,同时形成台阶结构;6)于所述台阶结构的侧壁及切割道区域形成钝化保护层;7)对所述N‑GaN层表面进行表面粗化,形成粗化微结构;8)于表面粗化后的所述N‑GaN层表面制备N电极。
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