[发明专利]一种基于实测数据的电子设备危害辐射场预测方法及系统

摘要

本发明属于系统级电磁兼容测试技术领域，公开一种基于实测数据的电子设备危害辐射场预测方法及系统，该方法采用的系统包括：方舱车，所述方舱车前部的车头正前设有垂直的吸波材料，车头的上部设有倾斜的吸波材料；方舱车后部的屏蔽方舱内设有不同工作频段的衰减器组、测试仪器，所述不同工作频段的衰减器组通过预设信号电缆与屏蔽方舱外二维转台上设的测试天线相连；本发明解决了电子设备正常使用时危害场预测的复杂问题，能够准确预测用频设备在空间任一位置处的危害辐射场。简化了测试复杂度，具有很好的推广应用价值。

主权项

1.一种基于实测数据的电子设备危害辐射场预测方法，采用满足整个系统外场测试移动的车载系统进行预测，所述的车载系统为一种基于实测数据的电子设备危害辐射场预测系统，包括：方舱车(1)、屏蔽方舱(2)、测试天线(4)、不同工作频段的衰减器组(5)、测试仪器(6)、吸波材料(3)，所述方舱车(1)前部的车头正前设置有一个垂直的吸波材料(3)，车头的上部设置有一个倾斜的吸波材料(3)；所述方舱车(1)后部设置有屏蔽方舱(2)，屏蔽方舱(2)内设置有不同工作频段的衰减器组(5)、测试仪器(6)，所述不同工作频段的衰减器组(5)通过预设信号电缆与屏蔽方舱(2)外二维转台(7)上设置的测试天线(4)相连；所述测试仪器(6)包括：微波场强计(6.1)、数据处理显示子系统(6.2)、仿真计算机(6.3)；其特征是：其步骤如下：步骤一：测量电子设备的电磁辐射参数；针对电子设备正常工作时周围的电磁辐射开展测量，采用标准测试天线(4)、衰减器组(5)、测试仪器(6)组成的测试链路进行测量，获取电子设备正常工作时周围的电场分布；在应用整个测试链路进行测量之前，需要用微波场强计(6.1)对整个测试链路的测试数据进行标校，建立测量误差补偿表；当接收信号微弱，整个馈电链路能够跳过衰减器组，直接将信号馈入测试仪器；步骤二：获取电子设备发射天线加装后的三维天线方向图；当发射天线加装到电子设备后，通常都会被设备外型遮挡或者表面反射，影响原有的天线方向图，因此需要重新仿真天线加装到被试设备后的三维天线方向图；仿真采用的仿真计算机(6.3)，安装有三维天线方向图计算所需的商业软件HFSS或FEKO，通过导入仿真软件被试电子设备三维立体模型，调用软件的仿真引擎，实现电子设备的三维天线方向图分布仿真；在仿真计算过程中，应注意与测量条件的匹配，即针对实际测试过程中所设置的距离、角度，在仿真过程中也同样设置相同条件，利用软件功能设计中的检测探头，获取实现电子设备的三维天线方向图分布仿真的位置处仿真数据，同时仿真所需距离、角度的三维立体危害辐射场分布；步骤三：电子设备危害辐射场获取，在已经获取电子设备三维天线方向图，及测量点位场强测量值后，依据公式(1)计算获取电子设备任意位置处的危害辐射场数值；式中：电子设备天线加装后的三维辐射场强方向图；以电子设备为球心，测量点位在球坐标系下的坐标；仿真计算中，测量点位相对于预测点位处的场强计算相对值；测量点位处测得场强值；空间任意一点的预测场强值。