[发明专利]一种基于实测数据的电子设备危害辐射场预测方法及系统

说明书

本发明属于系统级电磁兼容测试技术领域，公开一种基于实测数据的电子设备危害辐射场预测方法及系统，该方法采用的系统包括：方舱车，所述方舱车前部的车头正前设有垂直的吸波材料，车头的上部设有倾斜的吸波材料；方舱车后部的屏蔽方舱内设有不同工作频段的衰减器组、测试仪器，所述不同工作频段的衰减器组通过预设信号电缆与屏蔽方舱外二维转台上设的测试天线相连；本发明解决了电子设备正常使用时危害场预测的复杂问题，能够准确预测用频设备在空间任一位置处的危害辐射场。简化了测试复杂度，具有很好的推广应用价值。

技术领域

本发明属于系统级电磁兼容测试技术领域，尤其涉及一种基于实测数据的电子设备危害辐射场预测方法及系统，通过测试电子设备在某一方位的电磁辐射，结合设备发射天线场强方向图，预测该设备对所处空间的危害场强度分布。

背景技术

随着科学技术的不断进步，各类用频设备不断增多，各种电磁辐射源数量呈指数增长，电磁环境越来越复杂。随着电子信息系统向系统化、综合化、网络化和一体化不断发展，电磁环境日益恶化。人们对于电子系统电磁兼容的关注也由单个模块转换到整个系统，甚至多平台间的互兼容研究。其中一个关键问题就是对于电子设备危害场的掌握，只有准确把握了电子设备在使用过程中所产生的危害场，才可以详细设计该设备的使用方法，以及邻近设备的防护要求。

对于系统级的电磁兼容测试，目前国内通行的标准是GJB1389A，对应于美国的MIL-STD-464。上述标准中有外部电磁射频环境的要求，但是具体危害场的测试方法并没有明确规定，如何预测电子信息设备在使用过程中对于所处空间造成危害场分布也没有手段。如果在不同测试距离，不同频率围绕该设备进行360°测试，费事费力，现实当中也很难实现。

发明内容

为克服现有技术的不足，本发明提供一种基于实测数据的电子设备危害辐射场预测方法及系统，主要用于电子信息设备在使用过程中危害场的预测。考虑到系统级电磁兼容，一个设备对另一个设备造成干扰，干扰能量主要来自于该设备的发射天线，因此在本发明当中，首先利用危害场辐射测试系统，测试该设备在某一方位的辐射场，然后结合该设备的发射天线加载后的三维立体方向图，可以较为准确获取该设备在三维立体空间危害场分布。

在多平台的系统级电磁兼容问题分析中，需要详细掌握各平台的危害辐射场分布，作为大系统设计的依据，以及使用中系统合理布局及各平台防护设计的根本出发点。本发明结合设备发射天线加载后的三维立体方向图，通过测试该设备某一方位的场强辐射，可以客观获取该设备在使用过程中三维立体全空间的危害场分布。

为实现上述发明目的，本发明采用如下技术方案：

一种基于实测数据的电子设备危害辐射场预测系统，包括：方舱车1、屏蔽方舱2、测试天线4、不同工作频段的衰减器组5、测试仪器6、吸波材料3，所述方舱车1前部的车头正前设置有一个垂直的吸波材料3，车头的上部设置有一个倾斜的吸波材料3；所述方舱车1后部设置有屏蔽方舱2，屏蔽方舱2内设置有不同工作频段的衰减器组5、测试仪器6，所述不同工作频段的衰减器组5通过预设信号电缆与屏蔽方舱2外二维转台7上设置的测试天线4相连；所述测试仪器6包括：微波场强计6.1、数据处理显示子系统6.2、仿真计算机6.3。

一种基于实测数据的电子设备危害辐射场预测系统，所述二维转台7为用于满足标准天线4在二维空间扫描的装置。

一种基于实测数据的电子设备危害辐射场预测系统，所述屏蔽方舱2为用于保护测试人员及仪器仪表免受大功率电磁辐射危害作用的屏蔽腔体，方舱屏蔽度大于100分贝。

一种基于实测数据的电子设备危害辐射场预测系统，所述吸波材料3为用于减小汽车表面反射对测试信号影响的材料，吸波材料3由若干锯齿形结构组成的吸波板料。

一种基于实测数据的电子设备危害辐射场预测系统，所述衰减器组5由若干个不同工作频段的衰减器组成，用于衰减标准天线4接收的信号，保护后端的测试仪器6。