[发明专利]一种芯片测试方法及装置在审
| 申请号： | 201610024406.2 | 申请日： | 2016-01-14 |
| 公开（公告）号： | CN106970312A | 公开（公告）日： | 2017-07-21 |
| 发明（设计）人： | 任科飞 | 申请（专利权）人： | 北京君正集成电路股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市京大律师事务所11321 | 代理人： | 刘向辉,王凝 |
| 地址： | 100193 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及通信电子技术领域，尤其涉及一种芯片测试方法及装置。用于解决现有技术中在检测芯片连通性的同时无法检测芯片精度的问题。该方法包括在所述芯片的输入端输入连续且变化的电压值；对所述芯片的输出端所获取到的每一个电压值进行预设检测；当检测结果满足预设条件时，确定该芯片良好。可见，本发明实施例提供的芯片测试方法，通过给芯片输入连续且变化的电压值，来测试芯片输出端所检测到的电压值是否满足预设条件，如果满足不仅能说明芯片的连通性良好，同时也可说明芯片的精度良好。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括：在所述芯片的输入端输入连续且变化的电压值；对所述芯片的输出端所获取到的每一个电压值进行预设检测；当检测结果满足预设条件时，确定该芯片良好。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京君正集成电路股份有限公司，未经北京君正集成电路股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610024406.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种芯片测试方法
- 下一篇：电子部件输送装置以及电子部件检查装置
