[发明专利]一种芯片测试方法及装置在审
| 申请号： | 201610024406.2 | 申请日： | 2016-01-14 |
| 公开（公告）号： | CN106970312A | 公开（公告）日： | 2017-07-21 |
| 发明（设计）人： | 任科飞 | 申请（专利权）人： | 北京君正集成电路股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市京大律师事务所11321 | 代理人： | 刘向辉,王凝 |
| 地址： | 100193 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 方法 装置 | ||
1.一种芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括：
在所述芯片的输入端输入连续且变化的电压值；
对所述芯片的输出端所获取到的每一个电压值进行预设检测；
当检测结果满足预设条件时，确定该芯片良好。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在所述芯片的输入端输入连续且变化的电压值包括：
使用电压输出型DAC模块将数字信号转换为电压信号，作为连续且变化的电压值输入给所述芯片。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述芯片的输出端所获取到的每一个电压值进行预设检测包括；
对获取到的每一个电压值进行积分非线性及微分非线性检测。
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述当检测结果满足预设条件时包括：
当通过检测后的每一个数值都在预设的指定范围内，既检测结果满足预设条件。
5.一种芯片测试装置，其特征在于，所述装置包括：
电压输出型DAC模块，用于在所述芯片的输入端输入连续且变化的电压值；
检测模块，用于对所述芯片的输出端所获取到的每一个电压值进行预设检测；
确定模块，用于当检测结果满足预设条件时，确定该芯片良好。
6.如权利要求5所述的装置，其特征在于，所述电压输出型DAC模块具体用于：
使用电压输出型DAC模块将数字信号转换为电压信号，作为连续且变化的电压值输入给所述芯片。
7.如权利要求5所述的装置，其特征在于，所述检测模块具体用于：对获取到的每一个电压值进行积分非线性及微分非线性检测。
8.如权利要求5所述的装置，其特征在于，所述确定模块具体用于：当通过检测后的每一个数值都在预设的指定范围内，既检测结果满足预设条件。
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