[发明专利]液晶显示面板切割检测方法在审
| 申请号： | 201610024073.3 | 申请日： | 2016-01-14 |
| 公开（公告）号： | CN105487272A | 公开（公告）日： | 2016-04-13 |
| 发明（设计）人： | 付宝琴 | 申请（专利权）人： | 武汉华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/1333 | 分类号： | G02F1/1333;G09G3/00 |
| 代理公司： | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人： | 郝传鑫;熊永强 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉市武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供一种液晶显示面板切割检测方法，包括：提供一液晶显示面板母板，其中，所述液晶显示面板母板包括多个对位标记；根据所述液晶显示面板母板的多个所述对位标记，确定多条相互平行的第一切割线；沿着每一所述第一切割线进行切割，获得多条液晶显示面板子板；对每条所述液晶显示面板子板进行外观检测；以及对每条所述液晶显示面板子板进行电气检测。本实施方式中，由于没有对液晶显示面板母板进行交叉切割，可以降低裂片、线路刮伤等现象出现的概率，从而可提高显示面板单元的合格率。另外，由于是对一条一条的液晶显示面板子板进行外观和电气检测，可以提高液晶显示面板切割检测效率，从而降低生产成本。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶显示 面板 切割 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种液晶显示面板切割检测方法，包括：提供一液晶显示面板母板，其中，所述液晶显示面板母板包括多个对位标记；根据所述液晶显示面板母板的多个所述对位标记，确定多条相互平行的第一切割线；沿着每一所述第一切割线进行切割，获得多条液晶显示面板子板；对每条所述液晶显示面板子板进行外观检测；以及对每条所述液晶显示面板子板进行电气检测。
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