[发明专利]液晶显示面板切割检测方法在审

专利信息
申请号: 201610024073.3 申请日: 2016-01-14
公开(公告)号: CN105487272A 公开(公告)日: 2016-04-13
发明(设计)人: 付宝琴 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: G02F1/1333 分类号: G02F1/1333;G09G3/00
代理公司: 广州三环专利代理有限公司 44202 代理人: 郝传鑫;熊永强
地址: 430070 湖北省武汉市武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 液晶显示 面板 切割 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种液晶显示面板切割检测方法,包括:

提供一液晶显示面板母板,其中,所述液晶显示面板母板包括多个对位 标记;

根据所述液晶显示面板母板的多个所述对位标记,确定多条相互平行的 第一切割线;

沿着每一所述第一切割线进行切割,获得多条液晶显示面板子板;

对每条所述液晶显示面板子板进行外观检测;以及

对每条所述液晶显示面板子板进行电气检测。

2.如权利要求1所述的液晶显示面板切割检测方法,其特征在于,每一 所述第一切割线为横向切割线。

3.如权利要求1所述的液晶显示面板切割检测方法,其特征在于,每一 所述第一切割线为纵向切割线。

4.如权利要求1所述的液晶显示面板切割检测方法,其特征在于,多条 所述液晶显示面板子板中每条所述液晶显示面板子板包括的液晶显示面板单 元的数量相同。

5.如权利要求1所述的液晶显示面板切割检测方法,其特征在于,在对 所述每条液晶显示面板子板进行电气检测后,还包括:

根据每条所述液晶显示面板子板上的多个对位标记,确定多条相互平行 的第二切割线;以及

沿着每一所述第二切割线进行切割,获得多个液晶显示面板单元。

6.如权利要求5所述的液晶显示面板切割检测方法,其特征在于,所述 第一切割线为横向切割线,所述第二切割线为纵向切割线。

7.如权利要求5所述的液晶显示面板切割检测方法,其特征在于,所述 第一切割线为纵向切割线,所述第二切割线为横向切割线。

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