[发明专利]一种芯片测试方法在审
| 申请号： | 201610023806.1 | 申请日： | 2016-01-14 |
| 公开（公告）号： | CN106970311A | 公开（公告）日： | 2017-07-21 |
| 发明（设计）人： | 任科飞 | 申请（专利权）人： | 北京君正集成电路股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市京大律师事务所11321 | 代理人： | 刘向辉,王凝 |
| 地址： | 100193 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及通信电子技术领域，尤其涉及一种芯片测试方法。用于降低现有技术中由于测试而增加的芯片生产成本。该方法包括将待测试芯片的通用输入输出引脚两两连接；按照预设方式对成对的通用输入输出引脚进行配置；判断成对的通用输入输出引脚是否可以进行通信。可见该方法在测试过程中不需要制作芯片测试板，也不需要与测试机连接即可进行测试，因此可降低由于测试工作而增加的芯片生产成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括：将待测试芯片的通用输入输出引脚两两连接；按照预设方式对成对的通用输入输出引脚进行配置；判断成对的通用输入输出引脚是否可以进行通信。
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