[发明专利]一种芯片测试方法在审
| 申请号： | 201610023806.1 | 申请日： | 2016-01-14 |
| 公开（公告）号： | CN106970311A | 公开（公告）日： | 2017-07-21 |
| 发明（设计）人： | 任科飞 | 申请（专利权）人： | 北京君正集成电路股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市京大律师事务所11321 | 代理人： | 刘向辉,王凝 |
| 地址： | 100193 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 方法 | ||
1.一种芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括：
将待测试芯片的通用输入输出引脚两两连接；
按照预设方式对成对的通用输入输出引脚进行配置；
判断成对的通用输入输出引脚是否可以进行通信。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述按照预设方式对成对的通用输入输出引脚进行配置包括：
所述成对的通用输入输出引脚包括第一引脚和第二引脚；
将所述第一引脚配置为输入端口，所述第二引脚配置为输出端口；
所述判断成对的通用输入输出引脚是否可以进行通信包括：
当第二引脚输出高电平或者低电平时，判断所述第一引脚是否可以接收到所述高电平或者低电平；如果可以，则说明所述第一引脚可接收信号，所述第二引脚可发出信号。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述按照预设方式对成对的通用输入输出引脚进行配置包括：
所述成对的通用输入输出引脚包括第一引脚和第二引脚；
将所述第一引脚配置为输出端口，所述第二引脚配置为输入端口；
所述判断成对的通用输入输出引脚是否可以进行通信包括：
当第一引脚输出高电平或者低电平时，判断所述第二引脚是否可以接收到所述高电平或者低电平；如果可以，则说明所述第二引脚可接收信号，所述第一引脚可发出信号。
4.如权利要求2或3所述的任一方法，其特征在于，所述判断成对的通用输入输出引脚是否可以进行通信包括：
当所述第一引脚可以输出或者输入来自所述第二引脚的输入或者输出信号时，确定所述对的通用输入输出引脚可进行通信。
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