[发明专利]一种快速测定二氧化硅的方法

摘要

本发明涉及一种快速测定二氧化硅的方法，该方法包括试样制备、试样分析过程，将用于化学分析的＜100目的试样用过氧化钠熔融，以水将熔融物冲洗于盛有盐酸的烧杯中溶解，定容后分取试液置于容量瓶中，加稀盐酸、钼酸铵溶液，混匀，放置5-35min或水浴加热5-40S；加水、草硫混酸、加硫酸亚铁铵溶液，用水稀释定容，于分光光度计上，在630-810nm波长处，用比色皿，以水或空白液为参比测量吸光度。本发明基于硫酸亚铁铵还原-硅钼蓝分光光度法基本原理，不仅有更广泛的适用性，可适用于各种物料的检验，而且其测定范围可涵盖生产所需。其分析过程简便、控制因素少、过程控制要求低、便于掌握，分析准确度高。

主权项

一种快速测定二氧化硅的方法，其特征在于，采用以下步骤完成：1)取烘干后的试样进行粉碎，粉碎后的试样颗粒为＜100目；2)称取试样，将试样置于坩埚中，加过氧化钠搅拌均匀，然后置于650—1000℃的温度下熔解，熔融至成暗红色流动液体，取出稍冷；3)以水将熔融物冲洗于盛有盐酸的烧杯中，搅拌使溶液澄清后定容，混匀，静止后用移液管进行分液；4)分取试液置于容量瓶中，加稀盐酸，加钼酸铵溶液，混匀，放置5‑35min或水浴加热5‑40S；5)加水、草硫混酸、加硫酸亚铁铵溶液，用水稀释定容，于分光光度计上，在630‑810nm波长处，用比色皿，以水或空白液为参比测量吸光度；6)扣除空白试验的吸光度后，以标液或标准样品的吸光度和含量值绘制标准曲线，从工作曲线上查得二氧化硅含量。