[发明专利]采用具有时间偏移深度段的边缘上检测器的高分辨率计算机断层摄影在审
| 申请号： | 201580084449.3 | 申请日： | 2015-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN108369284A | 公开（公告）日： | 2018-08-03 |
| 发明（设计）人： | 马丁·斯约林 | 申请（专利权）人： | 棱镜传感器公司 |
| 主分类号： | G01T1/24 | 分类号： | G01T1/24;A61B6/03;G01T1/29 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 刘宇峰 |
| 地址： | 瑞典斯*** | 国省代码： | 瑞典;SE |
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| 摘要： | 本发明公开了一种由计算机断层摄影(CT)系统10执行的测量方法。所述CT系统10包括X射线源和光子计数边缘上检测器的X射线探测器阵列，其中，每个边缘上检测器具有多个深度段，也称为检测器元件15，其被设置在入射的X射线方向的不同空间位置。所述方法包括应用时间偏移测量方案，所述时间偏移测量方案对于定位在不同深度的至少两个不同检测器元件15而提供在测量周期之间的时间偏移；所述时间偏移是被选择为使得至少两个测量周期在时间上至少部分地重叠。本发明还公开了相应的CT系统10、用于CT系统的控制单元20和用于CT系统10的测量电路30。本发明也公开了控制CT系统的计算机程序。所公开的技术提供了在角方向上的更高的采样频率。 | ||
| 搜索关键词： | 上检测器 时间偏移 计算机断层摄影 时间偏移测量 检测器元件 测量周期 计算机程序 采样频率 测量电路 高分辨率 空间位置 角方向 光子 入射 测量 应用 | ||
【主权项】：
1.一种计算机断层摄影(CT)系统(10)，包括X射线源和光子计数边缘上检测器的X射线探测器阵列，其特征在于：每个边缘上检测器具有多个深度段，也称为检测器元件(15)，其被设置在入射的X射线方向的不同空间位置；所述CT系统(10)是被配置为基于时间偏移测量方案来操作，用于对于定位在不同深度的至少两个不同检测器元件(15)而提供在测量周期之间的时间偏移；所述时间偏移是被选择为使得至少两个测量周期在时间上至少部分地重叠。
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