[发明专利]采用具有时间偏移深度段的边缘上检测器的高分辨率计算机断层摄影

权利要求书

1.一种计算机断层摄影(CT)系统(10)，包括X射线源和光子计数边缘上检测器的X射线探测器阵列，其特征在于：每个边缘上检测器具有多个深度段，也称为检测器元件(15)，其被设置在入射的X射线方向的不同空间位置；所述CT系统(10)是被配置为基于时间偏移测量方案来操作，用于对于定位在不同深度的至少两个不同检测器元件(15)而提供在测量周期之间的时间偏移；所述时间偏移是被选择为使得至少两个测量周期在时间上至少部分地重叠。

2.根据权利要求1所述的计算机断层摄影(CT)系统(10)，其特征在于：所述至少两个不同的检测器元件(15)包括三个或更多个不同的检测器元件(15)；所述时间偏移是被选择为使得所述三个或更多个不同的检测器元件的至少两个测量周期在时间上至少部分地重叠。

3.根据权利要求1或2所述的计算机断层摄影(CT)系统(10)，其特征在于：所述时间偏移的大小是被进一步选择为至少一个测量周期的一小部分持续时间。

4.根据权利要求1至3之一所述的计算机断层摄影(CT)系统(10)，其特征在于：所述时间偏移测量方案提供在对于定位于同一边缘上检测器的不同深度处的不同检测器元件的测量周期之间的时间偏移。

5.根据权利要求4所述的计算机断层摄影(CT)系统(10)，其特征在于：多个相邻的边缘上检测器被提供为在测量周期之间具有相同的时间偏移。

6.根据权利要求1至5之一所述的计算机断层摄影(CT)系统(10)，其特征在于：对于位于不同深度处的所述至少两个不同检测器元件(15)的测量周期是不同的；所述时间偏移是较短的测量周期的一小部分持续时间。

7.根据权利要求1至5之一所述的计算机断层摄影(CT)系统(10)，其特征在于：每个所述测量周期都具有相同的持续时间。

8.一种由CT系统(10)执行的测量方法，所述CT系统(10)包括X射线源和光子计数边缘上检测器的X射线探测器阵列，其特征在于：每个边缘上检测器具有多个深度段，也称为检测器元件(15)，其被设置在入射的X射线方向的不同空间位置；所述方法包括应用时间偏移测量方案，所述时间偏移测量方案对于定位在不同深度的至少两个不同检测器元件(15)而提供在测量周期之间的时间偏移；所述时间偏移是被选择为使得至少两个测量周期在时间上至少部分地重叠。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于：所述至少两个不同的检测器元件包括三个或更多个不同的检测器元件；所述时间偏移是被选择为使得所述三个或更多个不同的检测器元件的至少两个测量周期在时间上至少部分地重叠。

10.根据权利要求8或9所述的方法，其特征在于：所述时间偏移的大小是被进一步选择为至少一个测量周期的一小部分持续时间。

11.根据权利要求8至10之一所述的方法，其特征在于：所述方法包括应用时间偏移测量方案，所述时间偏移测量方案在对于定位于相同边缘上检测器的不同检测器元件的测量周期之间提供时间偏移。

12.根据权利要求11所述的方法，其特征在于：所述方法包括将所述时间偏移应用于多个相邻的边缘上检测器上。

13.根据权利要求8至12之一所述的方法，其特征在于：对于位于不同深度处的所述至少两个不同检测器元件的测量周期是不同的；所述时间偏移是较短的测量周期的一小部分持续时间。

14.根据权利要求8至12之一所述的方法，其特征在于：每个所述测量周期都具有相同的持续时间。