[发明专利]光扫描装置的校准方法和校准装置在审
| 申请号： | 201580077865.0 | 申请日： | 2015-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN107427184A | 公开（公告）日： | 2017-12-01 |
| 发明（设计）人： | 藤原真人;高田祐平 | 申请（专利权）人： | 奥林巴斯株式会社 |
| 主分类号： | A61B1/00 | 分类号： | A61B1/00;G02B26/10 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人： | 李辉,于靖帅 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种应用于光扫描装置的校准方法，该光扫描装置具有光纤，其具有被支承为能够振动的前端部；以及致动器，其使所述光纤的前端部在与该光纤的光轴垂直的方向上驱动，该校准方法包含如下的步骤配置步骤(步骤S02)，配置光位置检测器，该光位置检测器对来自光纤的前端部的出射光的位置进行检测；以及检测步骤(步骤S03)，向光纤提供光，并且对该光纤的前端部进行驱动，通过光位置检测器来检测出射光的位置。使用干涉条纹抑制单元来执行检测步骤(步骤S03)，该干涉条纹抑制单元抑制在到达光位置检测器的光路上所产生的干涉条纹。 | ||
| 搜索关键词： | 扫描 装置 校准 方法 | ||
【主权项】：
一种光扫描装置的校准方法，该校准方法应用于光扫描装置，该光扫描装置具有：光纤，其具有被支承为能够振动的前端部；以及致动器，其使所述光纤的前端部在与该光纤的光轴垂直的方向上驱动，该校准方法包含如下的步骤：配置步骤，配置光位置检测器，该光位置检测器对来自所述光纤的所述前端部的出射光的位置进行检测；以及检测步骤，向所述光纤提供光，并且对该光纤的所述前端部进行驱动，通过所述光位置检测器来检测出射光的位置，该光扫描装置的校准方法的特征在于，使用干涉条纹抑制单元来执行所述检测步骤，该干涉条纹抑制单元抑制在到达所述光位置检测器的光路上所产生的干涉条纹。
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