[发明专利]光扫描装置的扫描轨迹测定方法、扫描轨迹测定装置和图像校准方法在审
| 申请号： | 201580077863.1 | 申请日： | 2015-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN107430270A | 公开（公告）日： | 2017-12-01 |
| 发明（设计）人： | 双木满 | 申请（专利权）人： | 奥林巴斯株式会社 |
| 主分类号： | G02B26/10 | 分类号： | G02B26/10;A61B1/00;G02B21/06;G02B23/26 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人： | 李辉,于靖帅 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 提供如下的光扫描装置的扫描轨迹测定装置能够容易地减轻杂散光的影响而提高扫描轨迹的测定精度。一种光扫描装置(100)的扫描轨迹测定装置，通过照明光对被照射物进行扫描而生成该被照射物的显示图像，其中，该光扫描装置(100)的扫描轨迹测定装置具有屏幕(11)，其被照明光扫描；以及光位置检测器(12)，其检测屏幕(11)上的照明光的照射光点的位置，在屏幕(11)的扫描中通过光位置检测器(12)在规定的多个时间点依次检测照射光点的位置而测定照明光的扫描轨迹。 | ||
| 搜索关键词： | 扫描 装置 轨迹 测定 方法 图像 校准 | ||
【主权项】：
一种光扫描装置的扫描轨迹测定方法，通过照明光对被照射物进行扫描而生成该被照射物的显示图像，其特征在于，该光扫描装置的扫描轨迹测定方法包含如下的步骤：屏幕扫描步骤，通过所述照明光对屏幕进行扫描；以及照射位置信息取得步骤，在所述屏幕的扫描中利用光位置检测器在规定的多个时间点依次检测所述屏幕上的所述照明光的照射光点的位置而取得照射位置信息。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于奥林巴斯株式会社，未经奥林巴斯株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201580077863.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于激光束操纵的声光学偏转器和反射镜
- 下一篇：投影显示装置
