[发明专利]光扫描装置的扫描轨迹测定方法、扫描轨迹测定装置和图像校准方法在审

专利信息
申请号: 201580077863.1 申请日: 2015-03-25
公开(公告)号: CN107430270A 公开(公告)日: 2017-12-01
发明(设计)人: 双木满 申请(专利权)人: 奥林巴斯株式会社
主分类号: G02B26/10 分类号: G02B26/10;A61B1/00;G02B21/06;G02B23/26
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司11127 代理人: 李辉,于靖帅
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 扫描 装置 轨迹 测定 方法 图像 校准
【权利要求书】:

1.一种光扫描装置的扫描轨迹测定方法,通过照明光对被照射物进行扫描而生成该被照射物的显示图像,其特征在于,该光扫描装置的扫描轨迹测定方法包含如下的步骤:

屏幕扫描步骤,通过所述照明光对屏幕进行扫描;以及

照射位置信息取得步骤,在所述屏幕的扫描中利用光位置检测器在规定的多个时间点依次检测所述屏幕上的所述照明光的照射光点的位置而取得照射位置信息。

2.一种光扫描装置的扫描轨迹测定装置,通过照明光对被照射物进行扫描而生成该被照射物的显示图像,其特征在于,该光扫描装置的扫描轨迹测定装置具有:

屏幕,其被所述照明光扫描;以及

光位置检测器,其检测该屏幕上的所述照明光的照射光点的位置,

在所述屏幕的扫描中通过所述光位置检测器在规定的多个时间点依次检测所述照射光点的位置而测定所述照明光的扫描轨迹。

3.根据权利要求2所述的光扫描装置的扫描轨迹测定装置,其特征在于,

所述屏幕的厚度为所述照射光点的直径以下。

4.根据权利要求2所述的光扫描装置的扫描轨迹测定装置,其特征在于,

该光扫描装置的扫描轨迹测定装置还具有投影光学系统,该投影光学系统将所述屏幕上的所述照射光点投影到所述光位置检测器。

5.根据权利要求4所述的光扫描装置的扫描轨迹测定装置,其特征在于,该光扫描装置的扫描轨迹测定装置满足如下条件中的至少一个条件:

第1条件,所述屏幕的厚度为所述照射光点的直径以下;

第2条件,所述屏幕的所述照明光的扩散角度为扫描视角以上;

第3条件,所述投影光学系统的所述屏幕侧的数值孔径为0.2以上。

6.根据权利要求2至5中的任意一项所述的光扫描装置的扫描轨迹测定装置,其特征在于,

该光扫描装置的扫描轨迹测定装置还具有存储部,该存储部对测定出的所述照明光的扫描轨迹进行保存。

7.根据权利要求2至6中的任意一项所述的光扫描装置的扫描轨迹测定装置,其特征在于,

该光扫描装置的扫描轨迹测定装置还具有图像取得部,该图像取得部对所述屏幕进行拍摄而取得所述照明光的扫描轨迹的图像。

8.一种光扫描装置的图像校准方法,对通过照明光扫描被照射物而得到的被照射物像的像素位置进行校准从而生成所述被照射物的显示图像,其特征在于,该光扫描装置的图像校准方法包含如下的步骤:

扫描轨迹取得步骤,在所述被照射物的扫描之前取得所述照明光的扫描轨迹;以及

显示图像生成步骤,根据在所述扫描轨迹取得步骤中取得的所述扫描轨迹对扫描所述被照射物而得到的所述被照射物像的像素位置进行校准从而生成所述显示图像,

所述扫描轨迹取得步骤包含如下的步骤:

屏幕扫描步骤,通过所述照明光对屏幕进行扫描;以及

照射位置信息取得步骤,在所述屏幕的扫描中利用光位置检测器在规定的多个时间点依次检测所述屏幕上的所述照明光的照射光点的位置而取得照射位置信息。

9.根据权利要求8所述的光扫描装置的图像校准方法,其特征在于,

所述显示图像生成步骤包含如下的步骤:

像素信号取得步骤,在所述被照射物的扫描中在规定的多个时间点取得所述被照射物的像素信号;以及

像素信号配置步骤,将在该像素信号取得步骤中取得的所述像素信号配置在与所述照射位置信息取得步骤中的同一时间点的所述照射位置信息对应的像素位置。

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