[发明专利]通过检测带正电的和带负电的粒子的质谱测定法有效
| 申请号： | 201580064340.3 | 申请日： | 2015-10-01 |
| 公开（公告）号： | CN107004565B | 公开（公告）日： | 2020-04-07 |
| 发明（设计）人： | 克里斯多佛·D·布朗;叶夫根尼·克雷洛夫;迈克尔·古德温;凯瑞恩·格雷戈里;安德鲁·J·巴特费伊-萨博 | 申请（专利权）人： | 九零八图案公司 |
| 主分类号： | H01J49/00 | 分类号： | H01J49/00;H01J49/02;H01J49/42 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 胡秋玲;郑霞 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开以质谱测定系统和方法为特征，包括离子源、离子阱、以第一检测器元件和第二检测器元件为特征的检测器子系统、以及电连接到离子源、离子阱和检测器子系统的控制器，并且该控制器被配置使得在系统的操作期间，该控制器：将电信号施加到离子源，以从系统中的样品粒子中生成带正电的粒子和带负电的粒子；将电信号施加到离子阱，以从离子阱通过离子阱的共同的孔喷射多个粒子，并且基于由所喷射的粒子生成的第一电信号和第二电信号来确定关于样品粒子的信息。 | ||
| 搜索关键词： | 通过 检测 正电 负电 粒子 测定法 | ||
【主权项】：
一种质谱测定系统，包括：离子源；离子阱；检测器子系统，所述检测器子系统包括第一检测器元件和第二检测器元件；以及控制器，所述控制器电连接到所述离子源、所述离子阱和所述检测器子系统，并且所述控制器被配置成使得在所述系统的操作期间，所述控制器：将电信号施加到所述离子源，以从所述系统中的样品粒子中生成带正电的粒子和带负电的粒子；将电信号施加到所述离子阱，以通过所述离子阱的共同的孔从所述离子阱中喷射多个粒子，其中，所喷射的多个粒子包括所述带正电的粒子中的至少一些和所述带负电的粒子中的至少一些；将第一电压施加到所述第一检测器元件，使得所述第一检测器元件接收所喷射的带正电的粒子中的至少一些，并生成第一电信号；将第二电压施加到所述第二检测器元件，使得所述第二检测器元件接收所喷射的带负电的粒子中的至少一些，并生成第二电信号；以及基于所述第一电信号和所述第二电信号，确定关于所述样品粒子的信息。
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