[发明专利]通过检测带正电的和带负电的粒子的质谱测定法

权利要求书

1.一种质谱测定系统，包括：

离子源；

离子阱；

检测器子系统，所述检测器子系统包括多个检测器元件；以及

控制器，所述控制器电连接到所述离子源、所述离子阱和所述检测器子系统，并且所述控制器被配置成使得在所述系统的操作期间，所述控制器：

将电信号施加到所述离子源，以从所述系统中的样品粒子中生成带正电的粒子和带负电的粒子；

将电信号施加到所述离子阱，以通过所述离子阱的共同的孔从所述离子阱中喷射多个粒子，其中，所喷射的多个粒子包括所述带正电的粒子中的至少一些和所述带负电的粒子中的至少一些；

将第一电压施加到所述多个检测器元件的第一子集，使得所述多个检测器元件的所述第一子集接收所喷射的带正电的粒子中的至少一些，并生成第一电信号；

将第二电压施加到所述多个检测器元件的第二子集，使得所述多个检测器元件的所述第二子集接收所喷射的带负电的粒子中的至少一些，并生成第二电信号；

基于所述第一电信号和所述第二电信号，确定关于所述样品粒子的信息；以及

基于所确定的信息来调节施加到所述多个检测器元件中的不同成员的电压，以改变被包括在所述第一子集、所述第二子集、或在所述第一子集和所述第二子集两者中的成员。

2.根据权利要求1所述的系统，其中，所述控制器被配置为使得在所述系统的操作期间，所述控制器通过比较在对应于所述第一电信号和所述第二电信号中的至少一个电信号的峰值的共同检测时间处的所述第一电信号和所述第二电信号的振幅，确定所述峰值是否对应于检测到的带电粒子。

3.根据权利要求2所述的系统，其中，所述控制器被配置成使得在所述系统的操作期间，如果所述第二电信号在所述共同检测时间处不包括对应的峰值，则所述控制器确定所述峰值对应于检测到的带电粒子。

4.根据权利要求3所述的系统，其中，所述控制器被配置为使得在所述系统的操作期间，对于在所述第一电信号和所述第二电信号中的每个峰值，所述控制器通过比较在对应于所述峰值的共同检测时间处的所述第一电信号和所述第二电信号的振幅，确定所述峰值是否对应于检测到的带电粒子。

5.根据权利要求4所述的系统，其中，所述控制器被配置成使得在所述系统的操作期间，对于被确定为对应于检测到的带电粒子的每个峰值：

如果所述峰值对应于带正电的粒子，则所述控制器将所述第一电压施加到所述多个检测器元件的所述第二子集中的至少一个成员，以增加所述多个检测器元件的所述第一子集中的元件数量；以及

如果所述峰值对应于带负电的粒子，则所述控制器将所述第二电压施加到所述多个检测器元件的所述第一子集中的至少一个成员，以增加所述多个检测器元件的所述第二子集中的元件的数量。

6.根据权利要求1所述的系统，其中，所述控制器被配置成使得在所述系统的操作期间，当在所述第一电信号中检测到峰值，而在所述第二电信号中未检测到对应的峰值时，所述控制器将所述第一电压施加到所述多个检测器元件的所述第二子集中的至少一个成员，以增加在所述多个检测器元件的所述第一子集中的元件的数量。

7.根据权利要求6所述的系统，其中，所述控制器被配置成使得在所述系统的操作期间，当在所述第二电信号中检测到峰值，而在所述第一电信号中未检测到对应的峰值时，所述控制器将所述第二电压施加到所述多个检测器元件的所述第一子集中的至少一个成员，以增加在所述多个检测器元件的所述第二子集中的元件的数量。

8.根据权利要求7所述的系统，其中，所述控制器被配置成使得在所述系统的操作期间，所述控制器将在所述第一电信号和所述第二电信号中的每一个电信号的振幅与阈值进行比较，以检测在所述第一电信号和所述第二电信号中的峰值。