[发明专利]温度测量设备、设备制造方法以及包括该设备的碰撞点测量系统在审

专利信息
申请号: 201580044622.7 申请日: 2015-08-17
公开(公告)号: CN107076622A 公开(公告)日: 2017-08-18
发明(设计)人: 乔斯·弗朗西斯科·里瓦杜利亚费尔南德斯;蒂尼·聪裴 申请(专利权)人: 圣地亚哥德孔波斯特拉大学
主分类号: G01K7/36 分类号: G01K7/36
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司11227 代理人: 杜诚,陈炜
地址: 西班牙拉*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及温度测量设备、用于制造该设备的方法、以及包括该设备的用于测量碰撞点的系统。根据一个方面,本发明涉及温度测量设备,该温度测量设备包括由磁性金属材料制成的薄膜片,使得在使用中并且在存在施加的磁场的情况下,在薄膜片的一个区域中的温度变化在所述一个区域中产生电压,所产生的电压能够通过对应于所述一个区域的电压读取装置来读取。根据另一方面,本发明涉及用于制造该设备的方法。根据又一方面,本发明涉及包括该设备的用于测量辐射或粒子的碰撞点的系统。
搜索关键词: 温度 测量 设备 制造 方法 以及 包括 碰撞 系统
【主权项】:
一种温度测量设备(1),其特征在于包括:·磁性金属薄膜片(2),所述磁性金属薄膜片由多个区域(3)形成,并且所述多个区域中的每个区域包括电压读取装置(4),所述电压读取装置在所述每个区域中包括金属材料沉积物;使得在操作中并且在存在施加的磁场(7)的情况下,所述多个区域中的一个区域中的温度变化(6)在所述一个区域中产生电压(8),所述电压能够通过对应于所述一个区域的电压读取装置(4)来读取。
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