[发明专利]开关劣化检测设备和方法有效
申请号: | 201580026445.X | 申请日: | 2015-07-29 |
公开(公告)号: | CN106415295B | 公开(公告)日: | 2019-12-10 |
发明(设计)人: | 朴载东;李相勋;金暎桓;成昌炫 | 申请(专利权)人: | 株式会社LG化学 |
主分类号: | G01R31/327 | 分类号: | G01R31/327 |
代理公司: | 11219 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 穆森;戚传江 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明涉及一种开关劣化检测设备和方法,并且更具体地涉及一种开关劣化检测设备,包括:电阻器,该电阻器串联连接到其充电和放电被开关控制的电池;第一差分放大器,该第一差分放大器用于放大在开关的两端之间的电压差并且将所放大的电压差作为第一输出电压输出;第二差分放大器,该第二差分放大器用于放大在电阻器的两端之间的电压差并且将所放大的电压差作为第二输出电压输出;比较器,该比较器用于比较第二输出电压和第二输出电压的大小;以及控制单元,该控制单元用于基于比较器的比较结果来确定开关是否劣化。 | ||
搜索关键词: | 开关 检测 设备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种开关劣化检测设备,包括:/n电阻器,所述电阻器与电池串联连接,在所述电池中充电和放电被开关控制,所述开关是场效应晶体管开关;/n第一差分放大器,所述第一差分放大器被配置为放大在所述开关的两端之间的电压差,以将所放大的电压差作为第一输出电压输出;/n第二差分放大器,所述第二差分放大器被配置为放大在所述电阻器的两端之间的电压差,以将所放大的电压差作为第二输出电压输出;/n比较器,所述比较器被配置为比较在所述第二输出电压和所述第二输出电压之间的电平;/n控制器,所述控制器被配置为基于所述比较器的比较结果,确定所述开关是否劣化,并且控制所述电阻器的电阻值以及所述第一差分放大器的放大率和所述第二差分放大器的放大率中的至少一个,使得所述第一输出电压与所述第二输出电压相同,从而作为比较在所述第一输出电压和所述第二输出电压之间的所述电平的结果,输出电压相同信号从所述比较器输出;以及/n运算器,所述运算器被配置为当所述输出电压相同信号从所述比较器输出时,通过使用所述电阻器的电阻值以及所述第一差分放大器和所述第二差分放大器的放大率,计算所述开关的接通电阻值,/n其中,作为比较在所述第一输出电压和所述第二输出电压之间的所述电平的结果,当所述第一输出电压大于所述第二输出电压时,所述比较器输出开关劣化信号,/n其中,当接收到所述开关劣化信号时,所述控制器确定所述开关劣化。/n
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