[发明专利]开关劣化检测设备和方法有效
申请号: | 201580026445.X | 申请日: | 2015-07-29 |
公开(公告)号: | CN106415295B | 公开(公告)日: | 2019-12-10 |
发明(设计)人: | 朴载东;李相勋;金暎桓;成昌炫 | 申请(专利权)人: | 株式会社LG化学 |
主分类号: | G01R31/327 | 分类号: | G01R31/327 |
代理公司: | 11219 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 穆森;戚传江 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 开关 检测 设备 方法 | ||
【说明书】:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社LG化学,未经株式会社LG化学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201580026445.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:感应模组的测试方法及测试装置
- 下一篇:峰值频率检测装置以及方法