[实用新型]一种计算器IC测试装置有效
| 申请号： | 201521103030.1 | 申请日： | 2015-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN205246824U | 公开（公告）日： | 2016-05-18 |
| 发明（设计）人： | 陈振平 | 申请（专利权）人： | 莆田德信电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 福州君诚知识产权代理有限公司 35211 | 代理人： | 戴雨君 |
| 地址： | 351100 福建省莆田市涵江*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种计算器IC测试装置，其包括按键触笔和测试架，所述测试架包括底座和上盖，所述底座上固定有LCD显示屏、导电条和检测顶针，所述导电条的一端与位于被测IC底面的导电层相对应，导电条的另一端和LCD显示屏电连接，所述检测顶针与位于被测IC底面的检测触点一一对应,所述上盖与底座相铰接，上盖上对应被测IC正面的按键区开设有窗口通孔，底座上设有用于上盖扣合时压合锁附的扣锁。本实用新型操作方便、价格低廉、检测迅速，特别适合大规模的生产和检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 计算器 ic 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种计算器IC测试装置，其特征在于：其包括按键触笔和测试架,所述测试架包括底座和上盖，所述底座上固定有LCD显示屏、导电条和检测顶针，所述导电条的一端与位于被测IC底面的导电层相对应，导电条的另一端和LCD显示屏电连接，所述检测顶针与位于被测IC底面的检测触点一一对应,所述上盖与底座相铰接，上盖上对应被测IC正面的按键区开设有窗口通孔，底座上设有用于上盖扣合时压合锁附的扣锁。
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