[实用新型]一种计算器IC测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种计算器IC测试装置。

背景技术

计算器IC在进行装配之前通常都需要进行整体性能的检测，以保证计算器IC的良品率，以提高产品的合格率。因此如何在工厂大批量计算器生产大环境下，保证快速简便的检测计算器IC的性能成为工程师们需要解决的问题。

发明内容

本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供可快速简便检测计算器IC的检测装置。

本实用新型采用的技术方案是：

一种计算器IC测试装置，其包括按键触笔和测试架，所述测试架包括底座和上盖，所述底座上固定有LCD显示屏、导电条和检测顶针，所述导电条的一端与位于被测IC底面的导电层相对应，导电条的另一端和LCD显示屏电连接，所述检测顶针与位于被测IC底面的检测触点一一对应,所述上盖与底座相铰接，上盖上对应被测IC正面的按键区开设有窗口通孔，底座上设有用于上盖扣合时压合锁附的扣锁。

所述上盖通过合页铰接于底座上。

所述上盖对应窗口通孔的相对两侧上分别设有限位块。

所述上盖由透明材料成型。

所述底座设有与测试主板上设有的定位孔对应的定位柱，所述定位孔和定位柱均为2个以上。

所述导电条通过斑马纸与LCD显示屏连接。

本实用新型还包括电流表，所述电流表与检测顶针电连接。

本实用新型采用以上技术方案，被测IC放于底座上，由定位孔配合定位柱定位，合下上盖后则IC上检测触点与底座上检测顶针相接触，可通过与检测顶针连接的电流表检测显示电流；IC的导电层与导电条相接触，同时上盖上的窗口通孔与IC正面的按键区相对应，检测员通过按键触笔点击相应的按键，再通过查看LCD显示屏是否显示正确，以判断IC是否合格。本实用新型操作方便、价格低廉、检测迅速，特别适合大规模的生产和检测。

附图说明

以下结合附图和具体实施方式对本实用新型做进一步详细说明；

图1本实用新型一种计算器IC测试装置的结构示意图；

图2本实用新型的被测IC的示意图之一；

图3本实用新型的被测IC的示意图之二。

具体实施方式

如图1至图3之一所示，本实用新型包括按键触笔20和测试架10，所述测试架10包括底座1和上盖2，所述底座1上固定有LCD显示屏11、导电条12和检测顶针14，所述导电条12的一端与位于被测IC4底面的导电层41相对应，导电条12的另一端和LCD显示屏11电连接，所述检测顶针14与位于被测IC4底面的检测触点43一一对应，所述上盖2与底座1相铰接，上盖2上对应被测IC4正面的按键区44开设有窗口通孔21，底座1上设有用于上盖2扣合时压合锁附的扣锁5。

所述上盖2通过合页3铰接于底座1上。

所述上盖2对应按键组21的相对两侧上分别设有限位块22。

所述上盖2由透明材料成型。

所述底座1设有与被测IC4上设有的定位孔42对应的定位柱13，所述定位孔42和定位柱13均为2个以上。

所述导电条12通过斑马纸与LCD显示屏11连接。

本实用新型还包括电流表（图中未表示），所述电流表与检测顶针14电连接。

本实用新型采用以上技术方案，被测IC放于底座上，由定位孔配合定位柱定位，合下上盖后则IC上检测触点与底座上检测顶针相接触，可通过与检测顶针连接的电流表检测显示电流；IC的导电层与导电条相接触，同时上盖上的窗口通孔与IC正面的按键区相对应，检测员通过按键触笔点击相应的按键，再通过查看LCD显示屏是否显示正确，以判断IC是否合格。本实用新型操作方便、价格低廉、检测迅速，特别适合大规模的生产和检测。