[实用新型]一种多只MOSFET并联均流结构的PCB板设计有效

专利信息
申请号: 201521100223.1 申请日: 2015-12-25
公开(公告)号: CN205283378U 公开(公告)日: 2016-06-01
发明(设计)人: 许祥建 申请(专利权)人: 河北世纪恒兴电子技术有限公司
主分类号: H02M1/06 分类号: H02M1/06
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 050000 河北省石家庄市*** 国省代码: 河北;13
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摘要: 实用新型涉及PCB布板结构技术领域,尤其涉及一种多只MOSFET并联均流结构的PCB板设计,本实用新型采用了特殊的PCB布板结构技术设计,解决了传统并联多只MOSFET电流不均流、易对MOSFET造成损害,破坏电路结构的技术问题,达到了保证并联电流均流,对MOSFET管起到保护作用的技术效果;采用多只MOSFET并联的技术结构,解决了单只MOSFET的电流远远不能满足驱动器的技术问题,达到了并联MOSFET满足了大功率电机驱动器的要求的技术效果。
搜索关键词: 一种 mosfet 并联 结构 pcb 设计
【主权项】:
一种多只MOSFET并联均流结构的PCB板设计,其特征在于:包括铝基板(1)、并联MOSFET单元(2);并联MOSFET单元(2)焊接在铝基板(1)上,并联MOSFET单元(2)包括单元A(21)、单元B(22)、单元C(23)、单元D(24)、单元E(25)和单元F(26);单元A(21)、单元B(22)、单元C(23)、单元D(24)、单元E(25)和单元F(26)从左到右依次焊接在铝基板(1)上;单元A(21)的栅极连接有控制模块A(31),单元A(21)的漏极连接有铜环A(41),铜环A(41)焊接在单元A(21)的下侧;单元A(21)的源极一端与单元B(22)的漏极连接,单元B(22)的漏极连接有铜环B(42),铜环B(42)焊接在单元B(22)的上侧,单元B(22)的栅极连接控制模块A(31);控制模块A(31)焊接在铜环B(42)上侧;单元B(22)源极的另一端连接有铜环C(43),铜环C(3)焊接在单元B(22)和单元C(23)之间;单元C(23)的栅极连接有控制模块B(32),单元C(23)的漏极连接有铜环D(44),铜环D(44)焊接在单元C(23)的下侧;单元C(23)的源极一端与单元D(24)的漏极连接,单元D(24)的漏极连接有铜环E(45),铜环E(45)焊接在单元D(24)的上侧,单元D(24)的栅极连接控制模块B(32);控制模块B(32)焊接在铜环E(45)上侧;单元D(24)源极的另一端连接有铜环F(46),铜环F(46)焊接在单元D(24)和单元E(25)之间;单元E(25)的栅极连接有控制模块C(33),单元E(25)的漏极连接有铜环G(47),铜环G(47)焊接在单元E(25)的下侧;单元E(25)的源极一端与单元F(26)的漏极连接,单元F(26)的漏极连接有铜环H(48),铜环H(48)焊接在单元F(26)的上侧;单元F(26)的栅极连接控制模块C(33);控制模块C(33)焊接在铜环H(48)上侧。单元F(26)源极的另一端连接有铜环I(49),铜环I(49)焊接在单元F(26)的右侧。
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