[实用新型]一种波长修正式多光束阶梯平面反射镜激光干涉仪有效

专利信息
申请号: 201520966075.5 申请日: 2015-11-27
公开(公告)号: CN205619875U 公开(公告)日: 2016-10-05
发明(设计)人: 许诚昕;刘俊;邓娜;彭烨;张白 申请(专利权)人: 成都信息工程大学
主分类号: G01B9/02 分类号: G01B9/02
代理公司: 四川力久律师事务所 51221 代理人: 韩洋
地址: 610225 四川省成都*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 实用新型公开了一种波长修正式多光束阶梯平面反射镜激光干涉仪,包括激光源、分光镜、固定反射镜、测量反射镜装置、光电探测器组,其中激光源包括n(n≥2)个平行激光束,光电探测器组包括n个光电探测器件。测量反射镜装置包括测量反射镜与精密位移装置,固定反射镜的反射面为n个阶梯平面,相邻两个反射平面间距为λ/2n+kλ/2(k为自然数);每束激光经分光镜后变为两束,其中一束经固定反射镜反射后从分光镜透射,到达光电探测器,同时另一束激光依次经测量反射镜、分光镜反射后也入射至该光电探测器。该激光干涉仪产生的激光干涉现象不仅和激光波长有关,还和阶梯型反射平面高度差值有关,该光电探测器组能够检测到精度达到λ/2n级别的位移,同时在测量过程中修正激光波长,减小环境对激光干涉测量结果的影响,显著提高了测量精度。
搜索关键词: 一种 波长 修正 光束 阶梯 平面 反射 激光 干涉仪
【主权项】:
一种波长修正式多光束阶梯平面反射镜激光干涉仪,包括激光源(1)、分光镜(2)、固定反射镜(3)、测量反射镜装置(4)、光电探测器组(5),其特征在于,所述测量反射镜装置(4)包括测量反射镜(7)与精密位移装置(6),所述测量反射镜(7)设置在所述精密位移装置(6)上,所述精密位移装置(6)设置在被测物体上,所述精密位移装置(6)为所述测量反射镜(7)提供与被测物体位移同向或反向的位移,所述激光源(1)包括n个平行激光束,其中n≥2,所述光电探测器组(5)包括n个光电探测器件,所述固定反射镜(3)的反射面为n个成阶梯型的反射平面,相邻两个反射平面的间距等于λ/2n+kλ/2,其中k为自然数、λ为激光源(1)发出的激光波长;每个所述激光源(1)发出的激光经过所述分光镜(2)反射后,垂直射入对应一个反射平面,每个所述反射平面将对应激光束反射到对应的所述光电探测器组(5)的各个光电探测器件;所述激光源(1)发出的每束激光经过所述分光镜(2)透射后,分别垂直入射到所述测量反射镜(4)后反射到对应的光电探测器组(5)的各个光电探测器件。
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