[实用新型]一种双面引脚阵列半导体芯片测试治具

摘要

本实用新型公开了一种双面引脚阵列半导体芯片测试治具，自下而上依次包括测试主板、主测试插座探针定位板、主测试插座探针保持板，上测试插座探针定位板、上测试插座探针保持板和上测试座辅助测试电路板；主测试插座探针定位板和上测试插座探针定位板之间留有容置空间；主测试插座探针定位板内部嵌有主测试插座弹簧测试探针，上测试插座探针定位板内部嵌有上测试插座弹簧测试探针。本实用新型是在传统的测试座的基础上，通过增加上测试插座以及上测试插座辅助测试电路板及固定在辅助测试板上的扩展原器件，从而构建一种新的测试架构，形成测试回路。从而完成双面引脚阵列半导体芯片的系统测试，满足双面引脚阵列半导体芯片新型封装技术的需要。

主权项

一种双面引脚阵列半导体芯片测试治具，其特征在于：自下而上依次包括测试主板、主测试插座探针定位板、上测试插座探针定位板和上测试座辅助测试电路板；其中所述主测试插座探针定位板和所述上测试插座探针定位板之间留有用于固定被测半导体芯片的容置空间；所述主测试插座探针定位板内部嵌有一个或者多个主测试插座弹簧测试探针，所述主测试插座弹簧测试探针的一端与所述测试主板连接，另一端与所述被测半导体芯片连接；所述上测试插座探针定位板内部嵌有一个或者多个上测试插座弹簧测试探针，所述上测试插座弹簧测试探针的一端与所述被测半导体芯片连接，另一端与所述上测试座辅助测试电路板连接。