[实用新型]一种双面引脚阵列半导体芯片测试治具有效
| 申请号： | 201520709033.3 | 申请日： | 2015-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN205049602U | 公开（公告）日： | 2016-02-24 |
| 发明（设计）人： | 穆海燕;刘德先;张兰昌 | 申请（专利权）人： | 安拓锐高新测试技术（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人： | 汤东凤 |
| 地址： | 215021 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 双面 引脚 阵列 半导体 芯片 测试 | ||
1.一种双面引脚阵列半导体芯片测试治具，其特征在于：自下而上依次包括测试主板、主测试插座探针定位板、上测试插座探针定位板和上测试座辅助测试电路板；
其中所述主测试插座探针定位板和所述上测试插座探针定位板之间留有用于固定被测半导体芯片的容置空间；所述主测试插座探针定位板内部嵌有一个或者多个主测试插座弹簧测试探针，所述主测试插座弹簧测试探针的一端与所述测试主板连接，另一端与所述被测半导体芯片连接；所述上测试插座探针定位板内部嵌有一个或者多个上测试插座弹簧测试探针，所述上测试插座弹簧测试探针的一端与所述被测半导体芯片连接，另一端与所述上测试座辅助测试电路板连接。
2.如权利要求1所述的双面引脚阵列半导体芯片测试治具，其特征在于：还包括主测试插座探针保持板和上测试插座探针保持板，所述主测试插座弹簧测试探针的一端通过所述主测试插座探针保持板与所述测试主板连接，所述上测试插座弹簧测试探针的一端通过所述上测试插座探针保持板与所述上测试座辅助测试电路板连接。
3.如权利要求2所述的双面引脚阵列半导体芯片测试治具，其特征在于：所述上测试座辅助测试电路板下方设有一个或者多个辅助测试板扩展原器件。
4.如权利要求1-3任一所述的双面引脚阵列半导体芯片测试治具，其特征在于：所述被测半导体芯片为双面引脚阵列半导体芯片。
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