[实用新型]一种半导体芯片测试针架有效
| 申请号： | 201520668635.9 | 申请日： | 2015-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN204925183U | 公开（公告）日： | 2015-12-30 |
| 发明（设计）人： | 刘德先;周家春 | 申请（专利权）人： | 安拓锐高新测试技术（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人： | 汤东凤 |
| 地址： | 215021 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种半导体芯片测试针架，包括针架主体、一个或者多个信号传输探针、探针托板、上绝缘电抗控制圈、绝缘电抗控制圈，其中针架主体、探针托板均为金属材质，并在该金属材质的表面设置有绝缘层；针架主体、探针托板上均设置有至少一个用于固定信号传输探针的信号针穴，在针架主体的信号针穴上部和探针托板的信号针穴下部之间设有绝缘电抗控制圈，绝缘电抗控制圈包括上绝缘电抗控制圈和下绝缘电抗控制圈，上绝缘电抗控制圈固化在针架主体的上端，下绝缘电抗控制圈固化在探针托板的下端。本实用新型使信号传输探针的芯片接触点及测试线路板接触点之间保持同轴结构，以改善其在测试过程中的电性能的损耗从而保证超高频的芯片的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 芯片 测试 | ||
【主权项】：
一种半导体芯片测试针架，其特征在于：包括针架主体、一个或者多个信号传输探针、探针托板、上绝缘电抗控制圈、绝缘电抗控制圈，其中所述针架主体、所述探针托板均为金属材质，并在该金属材质的表面设置有绝缘层；所述针架主体、所述探针托板上均设置有至少一个用于固定所述信号传输探针的信号针穴，在所述针架主体的信号针穴上部和探针托板的信号针穴下部之间设有绝缘电抗控制圈，所述绝缘电抗控制圈包括上绝缘电抗控制圈和下绝缘电抗控制圈，所述上绝缘电抗控制圈固化在针架主体的上端，所述的下绝缘电抗控制圈固化在探针托板的下端。
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