[实用新型]一种半导体芯片测试针架有效
| 申请号： | 201520668635.9 | 申请日： | 2015-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN204925183U | 公开（公告）日： | 2015-12-30 |
| 发明（设计）人： | 刘德先;周家春 | 申请（专利权）人： | 安拓锐高新测试技术（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人： | 汤东凤 |
| 地址： | 215021 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 芯片 测试 | ||
【权利要求书】：
1.一种半导体芯片测试针架，其特征在于：包括针架主体、一个或者多个信号传输探针、探针托板、上绝缘电抗控制圈、绝缘电抗控制圈，其中所述针架主体、所述探针托板均为金属材质，并在该金属材质的表面设置有绝缘层；
所述针架主体、所述探针托板上均设置有至少一个用于固定所述信号传输探针的信号针穴，在所述针架主体的信号针穴上部和探针托板的信号针穴下部之间设有绝缘电抗控制圈，所述绝缘电抗控制圈包括上绝缘电抗控制圈和下绝缘电抗控制圈，所述上绝缘电抗控制圈固化在针架主体的上端，所述的下绝缘电抗控制圈固化在探针托板的下端。
2.如权利要求1所述的半导体芯片测试针架，其特征在于：所述上绝缘电抗控制圈采用电阻率>1011欧姆的绝缘材料固定在针架主体的信号针穴内表面。
3.如权利要求1或2所述的半导体芯片测试针架，其特征在于：所述下绝缘电抗控制圈采用电阻率>1011欧姆的绝缘有机塑料材料固定在探针托板的信号针穴内表面。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于安拓锐高新测试技术（苏州）有限公司，未经安拓锐高新测试技术（苏州）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201520668635.9/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：22.5×9.00轮辋不等横截面无内胎汽车车轮
- 下一篇：一种课堂录音钢笔
