[实用新型]一种半导体功率器件结构有效

专利信息
申请号: 201520626991.4 申请日: 2015-08-19
公开(公告)号: CN205752182U 公开(公告)日: 2016-11-30
发明(设计)人: 夏超;张琦 申请(专利权)人: 工业和信息化部电子第五研究所华东分所
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L29/40
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆;胡彬
地址: 215400 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种半导体功率器件结构,在传统的横向功率器件Trench LDMOS结构的Trench层中引入多层深度不同的纵向金属场板,同时在漂移区中引入一层重掺杂n型层,在提高器件击穿电压方面,多层长度不等的金属场板可以在漂移区中引入多个新的电场峰值,同时将表面高电场引入体内,避免器件在表面提前击穿;全耗尽后的重掺杂n型层提高了Trench层表面电荷密度,提高了Trench层和漂移区电场,提高器件击穿电压,在降低器件导通电阻方面,深氧Trench层减小了横向漂移区长度。
搜索关键词: 一种 半导体 功率 器件 结构
【主权项】:
一种半导体功率器件结构,其特征在于,所述半导体功率器件结构包括:源极、源金属、栅金属、漏极、漏极金属、源极体区、多晶硅、金属场板、N型重掺杂区、氧Trench层、N型漂移区、埋氧层、P型衬底;所述P型衬底在所述半导体功率器件结构的底层,所述埋氧层在所述P型衬底之上,所述N型漂移区在所述埋氧层之上,所述N型重掺杂区在所述N型漂移区之上,所述氧Trench层在所述N型重掺杂区之上,所述金属场板为多层长度不等的纵向场板,在所述N型漂移区靠近所述氧Trench层的表面注入一层重掺杂n型层。
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