[实用新型]用于检测组件的光学装置有效
| 申请号： | 201520622681.5 | 申请日： | 2015-08-18 |
| 公开（公告）号： | CN205015284U | 公开（公告）日： | 2016-02-03 |
| 发明（设计）人： | 张勋章;洪立玟;李秉益 | 申请（专利权）人： | 昆山全盈自动化设备有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/01 |
| 代理公司： | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人： | 董建林 |
| 地址： | 215300 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型提出一种用于检测组件的光学装置，包含有：一承载台，用于供组件承载；一发光源，用于发出光线以投射组件；一透镜，具有一自中央处向周缘递减的厚度，且设置于承载台一侧，用于组件反射发光源所投射的光线后，供组件所反射的光线穿透以让穿透的光线折射；以及一摄影件，为设置于透镜相对于承载台的一侧，用于接收折射后的光线以取得组件的影像。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 组件 光学 装置 | ||
【主权项】：
一种用于检测组件的光学装置，包括：一承载台，用于供组件承载；一发光源，用于发出光线以投射组件；一透镜，具有一自中央处向周缘递减的厚度，且设置于承载台一侧，用于所述组件反射发光源所投射的光线后，供组件所反射的光线穿透以让穿透的光线折射；以及一摄影件，设置于透镜相对于承载台的一侧，用于接收折射后的光线以取得组件的影像。
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