[实用新型]用于检测组件的光学装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种光学装置，此装置可检测组件是否有瑕疵，其中所检测之组件的尺寸与可检测到有瑕疵的位置均不受到限制。

背景技术

如螺丝、螺帽、插销、或铆钉等组件常用于电子、机械、医疗、或居家设备中。依目前的工业技艺，这种组件多采大规模生产方式来制造，故于制造过程须严密对组件的质量把关。一旦组件出现瑕疵时，除了可能会毁损设备外，还可能会威胁操作设备之人员的安全或性命。因此，检查这种组件是否有瑕疵确实为制造过程中相当重要的一项环节。

如图7所示，中国台湾新型专利公告号M355373提出之「对象外表面的360度检测装置」，其包含：承载部(1)、全向反射模块(2)、影像撷取单元(3)、及发光模块(4)。承载部(1)的顶面可承载且运送待检测对象(S1)；全向反射模块(2)设于承载部(1)上，且含有中空柱体(21)、第一反射镜(22)与第二反射镜(23)，第一反射镜(22)为以特定角度环设于中空柱体(21)内侧周缘，以映照出待检测对象(S1)外表面的360度影像，而第二反射镜(23)环设于中空柱体(21)内的中央位置，以接收第一反射镜(22)所反射的影像；影像撷取单元(3)为设置于全向反射模块(2)上，以撷取第二反射镜(23)所反射的影像。透过此装置，可拍摄到待检测对象(S1)外表面的360度影像。

再如图8所示，中国台湾新型专利公告号M370094提出之「对象外表面的取像装置」，其能检测待检测对象(S2)外表面且包含：由下往上设置的光源(5)、第一反射单元(6)、第二反射单元(7)、及取像单元(8)。第一反射单元(6)围绕中心轴线(L)并界定有第一光通空间(61)；第二反射单元(7)界定有第二光通空间(71)；光源(5)可将光线投射到待检测对象(S2)上，光线再进入第一、二光通空间(61、71)，并受第一、二反射单元(6、7)反射至取像单元(8)，使取像单元(8)撷取成像于第二反射单元(7)上的待检测对象(S2)影像，达到检测目的。

然而，以上习用设备因所用的光学组件导致所测的组件尺寸与其可检测到有瑕疵的位置受到局限，因而降低习用设备的应用性。于是，本实用新型是针对以上习用之设备存在的问题来进行改良。

实用新型内容

本实用新型之一目的在于提供一种新颖的光学装置，其可检测组件是否有瑕疵，且检测之组件的尺寸与其可检测到有瑕疵的位置均不受限。

于是，本实用新型提出一种用于检测组件的光学装置，其包含：一承载台，用于供组件承载；一发光源，用于发出光线以投射组件；一透镜，具有一自中央处向周缘递减的厚度，且设置于承载台一侧，用于组件反射发光源所投射的光线后，供组件所反射的光线穿透以让穿透的光线折射；以及一摄影件，为设置于透镜相对于承载台的一侧，用于接收折射后的光线以取得组件的影像。

依本实用新型，透过摄影件所取得的组件影像，可呈现组件的样貌，进而可确认组件是否有瑕疵。另一方面，依透镜结构所赋予的光学特性，可让组件的尺寸及组件可检测到有瑕疵的位置不受局限，从而提升组件检测的应用性。

附图说明

图1为一立体图，显示本实用新型一实施方式的光学装置；

图2为一侧视图，显示图1所示的光学装置；

图3为一局部侧视图，说明着图1所示的光学装置中透镜、发光源、摄影件、套筒及支架的相对位置；

图4为一局部侧视图，说明着图1所示的光学装置中透镜、发光源、摄影件、套筒及支架的相对位置；

图5(A)至图5(F)为一系列照片图，呈现图1所示的光学装置于一条件下检测6种组件样貌的结果；

图6(A)至图6(F)为一系列照片图，呈现图1所示的光学装置于另一条件下检测6种组件样貌的结果；

图7为一结构示意图，呈现相关前案中国台湾新型专利公告号M355373提出之对象外表面的360度检测装置；

图8为一结构示意图，呈现相关前案中国台湾新型专利公告号M370094提出之对象外表面的取像装置。

具体实施方式

为让本实用新型上述及/或其他目的、功效、特征更明显易懂，下文特举较佳实施方式，并配合所附图式，作详细说明如下：

请参照图1、2，绘示着本实用新型之一实施方式的光学装置，此装置可检测组件(S)且含有：一承载台(1)、一发光源(2)、一透镜(3)、一摄影件(4)、一支架(5)、一套筒(6)、一送料件(7)、及一集料件(8)。