[实用新型]一种用于集成电路测试的FPGA配置系统

摘要

本实用新型公开了一种用于集成电路测试的FPGA配置系统，系统包括通用控制模块、含有FPGA的通用测试板卡和适配器板卡，所述适配器板卡上设置有应对待测集成电路接口配置不同测试方案的多个存储器，在通用测试板卡和适配器板卡之间设置有通路切换模块，首先向多个存储器对不同的集成电路配置不同测试程序，然后直接调用测试程序启动测试；本实用新型通过将通用测试板卡与适配器板卡设计成可连接、可拆卸；将配置存储器和被测集成电路放置于适配器板卡上。解决了集成电路测试中需要增加硬件板卡数量或需要使用高性能FPGA导致硬件成本增加的问题，并解决了计算机对FPGA进行动态配置时通信总线传输速率存在限制的问题。

主权项

一种用于集成电路测试的FPGA配置系统，包括通用控制模块、含有FPGA的通用测试电路和待测集成电路接口电路，通用控制模块控制连接测试电路；其特征在于，所述测试电路和待测集成电路接口电路分为两个板卡，分别为含有FPGA的通用测试板卡和适配器板卡，所述待测集成电路接口电路设置在适配器板卡上；在所述适配器板卡上还设置有应对待测集成电路接口配置不同测试方案的一个或多个存储器，在通用测试板卡和适配器板卡之间设置有通路切换模块，通路切换模块上设置有应对多个存储器的多路时钟信号通路和数据信号通路，通用测试板卡设置有时钟信号和数据信号通道，所述时钟信号和数据信号通道选择性的经通路切换模块上的时钟信号通路和数据信号通路与所述适配器板卡对应所述通路的存储器连接。