[实用新型]一种用于集成电路测试的FPGA配置系统

说明书

技术领域

本实用新型属于集成电路测试领域，特别涉及一种用于集成电路测试的FPGA配置系统。

背景技术

如ADC、DAC转换器类的复杂集成电路测试具有测试品种多、测试参数多的特点，现代混合信号测试系统中多使用可编程逻辑器FPGA来实现复杂数字逻辑的控制。通常情况下，针对不同的测试品种需要使用不同的测试板卡以适应不同的封装、不同的管脚排列以及不同的控制时序。某些情况下，不同测试品种即便可以使用硬件相同的板卡进行开发，但由于控制时序的不同，则需加载不同的FPGA配置文件，导致需要使用多个硬件板卡，这在很大程度上增加了硬件成本。同时，某些集成电路品种测试所需FPGA资源较多，因此无法使用一个配置文件完成所有参数测试。

目前，在集成电路测试领域的主要解决方法有增加板卡数量、选用资源多性能好的FPGA芯片、通过计算机对FPGA进行动态配置。增加板卡数量以及选用高性能FPGA芯片的方法容易导致硬件成本过高，难以满足实际产品化的要求；而通过计算机对FPGA进行动态配置的方法需要通过通信总线将配置文件写入FPGA，此方法虽然增加了配置的灵活性，但效率受通信总线传输速率及可靠性的限制。当通信速率较慢时，配置时间较长，不满足集成电路测试高效率的要求，也难以应用到实际的产品化中。

发明内容

本实用新型的目的是提出一种用于集成电路测试的FPGA配置系统，通过使用一个存储器模块解决测试不同的集成电路品种，需要使用多块配置文件不同、硬件结构相同板卡或需要使用高性能FPGA的问题。

为了实现上述目的，本实用新型的技术方案是：

一种用于集成电路测试的FPGA配置系统，包括通用控制模块、含有FPGA的通用测试电路和待测集成电路接口电路，通用控制模块控制连接测试电路；所述测试电路和待测集成电路接口电路分为两个板卡，分别为含有FPGA的通用测试板卡和适配器板卡，所述待测集成电路接口电路设置在适配器板卡上；在所述适配器板卡上还设置有应对待测集成电路接口配置不同测试方案的一个或多个存储器，在通用测试板卡和适配器板卡之间设置有通路切换模块，通路切换模块上设置有应对多个存储器的多路时钟信号通路和数据信号通路，通用测试板卡设置有时钟信号和数据信号通道，所述时钟信号和数据信号通道选择性的经通路切换模块上的时钟信号通路和数据信号通路与所述适配器板卡对应所述通路的存储器连接。

方案进一步是：所述通用控制模块和通路切换模块之间设置有切换控制信号的连接，所述通用测试板卡设置有片选信号输出端口，所述通用测试板卡和适配器板卡之间设置有经通路切换模块的存储器片选信号的连接。

方案进一步是：所述通用测试板卡片选信号与所述多个存储器的片选信号端口采用分别连接方式或菊花链的方式连接。

方案进一步是：所述通路切换模块是一个独立的通路切换模块板卡，通路切换模块板卡通过两组插接件分别与通用测试板卡和适配器板卡连接。

方案进一步是：所述通路切换模块作为所述通用测试板卡电路的一部分通过印刷电路连接设置在所述通用测试板卡上，在通用测试板卡上所述通路切换模块通过插接件与适配器板卡连接。

本实用新型通过将通用测试板卡与适配器板卡设计成可连接、可拆卸；将配置存储器和被测集成电路放置于适配器板卡上，且配置存储器数量为一个或多个，通过通路切换模块选通不同的配置存储器的方法。解决了集成电路测试中需要增加硬件板卡数量或需要使用高性能FPGA导致硬件成本增加的问题，并解决了计算机对FPGA进行动态配置时通信总线传输速率存在限制的问题。

下面结合附图和实施例对发明作一详细描述。

附图说明

图1是本实用新型的结构框图；

图2是通路切换模块对FPGA和配置存储器的通路控制示意图。

具体实施方式