[实用新型]模拟量输入式合并单元的相位误差测试装置有效
| 申请号： | 201520407224.4 | 申请日： | 2015-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN204731339U | 公开（公告）日： | 2015-10-28 |
| 发明（设计）人： | 赵双双;陈铭明;卢树峰;杨世海;戴太文;徐敏锐;李志新;陈刚;陈晶;李涛 | 申请（专利权）人： | 国家电网公司;江苏省电力公司;江苏省电力公司电力科学研究院;福建亿榕信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人： | 董建林 |
| 地址： | 211103 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种模拟量输入式合并单元的相位误差测试装置，包括：功率源、网卡、FPGA芯片、SAR ADC和CPU，所述功率源分别连接待测合并单元、所述SAR ADC和所述CPU，所述网卡分别连接所述待测合并单元和所述FPGA芯片，所述FPGA芯片还分别连接所述CPU和所述SAR ADC，所述SAR ADC也连接所述CPU。本实用新型能够在不改变现场接线结构的方式下完成测试，不需要停电测试，测试结构稳定可靠。 | ||
| 搜索关键词： | 模拟 输入 合并 单元 相位 误差 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种模拟量输入式合并单元的相位误差测试装置，其特征在于，包括功率源、网卡、FPGA芯片、SAR ADC和CPU，所述功率源分别连接待测合并单元、所述SAR ADC和所述CPU，所述网卡分别连接所述待测合并单元和所述FPGA芯片，所述FPGA芯片还分别连接所述CPU和所述SAR ADC，所述SAR ADC也连接所述CPU。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国家电网公司;江苏省电力公司;江苏省电力公司电力科学研究院;福建亿榕信息技术有限公司，未经国家电网公司;江苏省电力公司;江苏省电力公司电力科学研究院;福建亿榕信息技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201520407224.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：基于中间站交流系统的特高压交流输电测试系统
- 下一篇：分离式电压跌落模拟器
