[实用新型]X射线放大成像系统有效

专利信息
申请号: 201520243657.0 申请日: 2015-04-21
公开(公告)号: CN204536232U 公开(公告)日: 2015-08-05
发明(设计)人: 孙天希;孙学鹏;须颖;董友;孙志国 申请(专利权)人: 北京师范大学;天津三英精密仪器有限公司
主分类号: G01N23/20 分类号: G01N23/20
代理公司: 北京名华博信知识产权代理有限公司 11453 代理人: 苗源;李冬梅
地址: 100875 北京市海淀区新街*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型公开一种X射线放大成像系统,该X射线放大成像系统包括:X射线光源;X射线光源透镜,其入口端设置有X射线光源,用于会聚X射线光源发射的X射线并得到用于照射样品的微焦斑相干光源;相位放大光栅,设置于样品之后,用于收集并调制照射样品后的X射线并产生衍射自成像效应;分析吸收放大光栅,设置于相位放大光栅之后,位于衍射自成像效应对应的自成像平面位置处,用于收集并处理来自相位放大光栅的X射线,将其中的相位信息转换为可识别的光强信息;X射线探测器,设置在分析吸收放大光栅之后,靠近分析吸收放大光栅的出口端,用于探测并收集样品的信息。本实用新型能大幅提高该X射线放大成像系统的分辨率和使用范围。
搜索关键词: 射线 放大 成像 系统
【主权项】:
一种X射线放大成像系统,其特征在于,包括:X射线光源(1);X射线光源透镜(2),其入口端设置有所述X射线光源(1),用于会聚所述X射线光源(1)发射的X射线并得到用于照射样品(4)的微焦斑相干光源(3);相位放大光栅(5),设置于所述样品(4)之后,用于收集并调制照射所述样品(4)后的X射线并产生衍射自成像效应;分析吸收放大光栅(6),设置于所述相位放大光栅(5)之后,位于所述衍射自成像效应对应的自成像平面位置处,所述分析吸收放大光栅(6)用于收集并处理来自所述相位放大光栅(5)的X射线,将其中的相位信息转换为可识别的光强信息;X射线探测器(7),设置在所述分析吸收放大光栅(6)之后,靠近所述分析吸收放大光栅(6)的出口端,用于探测并收集所述样品(4)的信息。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京师范大学;天津三英精密仪器有限公司,未经北京师范大学;天津三英精密仪器有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201520243657.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top