[实用新型]基于共线法的热导率测量装置有效
申请号: | 201520075461.5 | 申请日: | 2015-02-03 |
公开(公告)号: | CN204405576U | 公开(公告)日: | 2015-06-17 |
发明(设计)人: | 吴文智;柴志军;冉玲苓;孔德贵 | 申请(专利权)人: | 黑龙江大学 |
主分类号: | G01N25/20 | 分类号: | G01N25/20 |
代理公司: | 哈尔滨市伟晨专利代理事务所(普通合伙) 23209 | 代理人: | 荣玲 |
地址: | 150080 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 基于共线法的热导率测量装置属于光电技术领域;该装置包括纳秒脉冲激光器,设置于纳秒脉冲激光器出射光路上的第一分束片,用于接收第一分束片反射光路的硅探测器,输出的电信号作为触发信号,用于显示硅探测器接收信号的示波器;氦氖激光器、二分之一玻片和偏振分光片,还包括二向色镜,纳秒脉冲激光器的出射光路经过二向色镜透射后的光路,与氦氖激光器经过二向色镜反射后的光路共线,依次经过第二分束片、透镜后,汇聚到样品上;偏振分光片的反射光路与第二分束片的反射光路由双路探测器采集,相减后的结果由示波器显示;本申请热导率测量装置,不仅利用共线法提高信噪比,易于调节光点重合,而且可以补偿氦氖激光器的不稳定对测量结果的影响。 | ||
搜索关键词: | 基于 共线 热导率 测量 装置 | ||
【主权项】:
基于共线法的热导率测量装置,包括纳秒脉冲激光器(1),设置于纳秒脉冲激光器(1)出射光路上的第一分束片(2),用于接收第一分束片(2)反射光路的硅探测器(3),用于显示硅探测器(3)接收信号的示波器(4);氦氖激光器(5)、二分之一玻片(6)和偏振分光片(7),其特征在于,还包括二向色镜(8),纳秒脉冲激光器(1)的出射光路经过二向色镜(8)透射后的光路,与氦氖激光器(5)经过二向色镜(8)反射后的光路共路,依次经过第二分束片(9)、透镜(10)后,汇聚到样品(11)上;偏振分光片(7)的反射光路与第二分束片(9)的反射光路由双路探测器(12)采集,相减后的结果由示波器(4)显示。
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