[实用新型]基于共线法的热导率测量装置有效
| 申请号： | 201520075461.5 | 申请日： | 2015-02-03 |
| 公开（公告）号： | CN204405576U | 公开（公告）日： | 2015-06-17 |
| 发明（设计）人： | 吴文智;柴志军;冉玲苓;孔德贵 | 申请（专利权）人： | 黑龙江大学 |
| 主分类号： | G01N25/20 | 分类号： | G01N25/20 |
| 代理公司： | 哈尔滨市伟晨专利代理事务所(普通合伙) 23209 | 代理人： | 荣玲 |
| 地址： | 150080 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 共线 热导率 测量 装置 | ||
【权利要求书】：
1.基于共线法的热导率测量装置，包括纳秒脉冲激光器（1），设置于纳秒脉冲激光器（1）出射光路上的第一分束片（2），用于接收第一分束片（2）反射光路的硅探测器（3），用于显示硅探测器（3）接收信号的示波器（4）；氦氖激光器（5）、二分之一玻片（6）和偏振分光片（7），其特征在于，还包括二向色镜（8），纳秒脉冲激光器（1）的出射光路经过二向色镜（8）透射后的光路，与氦氖激光器（5）经过二向色镜（8）反射后的光路共路，依次经过第二分束片（9）、透镜（10）后，汇聚到样品（11）上；偏振分光片（7）的反射光路与第二分束片（9）的反射光路由双路探测器（12）采集，相减后的结果由示波器（4）显示。
2.根据权利要求1所述的基于共线法的热导率测量装置，其特征在于，所述偏振分光片（7）的反射光路经过多次反射后，进入双路探测器（12）。
3.根据权利要求1所述的基于共线法的热导率测量装置，其特征在于，所述第二分束片（9）的反射光路经过多次反射后，进入双路探测器（12）。
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